Аннотация:
Представлены результаты исследований электропроводности большой группы халькогенидных полупроводников, имеющих слоистую, кубическую и орторомбическую структуру, в сильных электрических полях до 10$^5$ V/cm. Выявленный рост электропроводности $\sigma$ в сильных электрических полях объясняется термоэлектронной ионизацией Френкеля. Это позволило наряду с другими параметрами (например, энергией активации и концентрацией ловушек, длиной свободного пробега носителей тока, диэлектрическую проницаемость), а также оценить концентрацию и подвижность носителей тока исследуемых полупроводников. Показано, что в сильных электрических полях в полупроводниках, когда имеет место термоэлектронная ионизация ловушек, их диэлектрическая проницаемость $\varepsilon$, обусловленная электронной поляризацией, определяется простым способом, т. е. $\varepsilon=n^2$ (где $n$ – коэффициент преломления света).