Т. П. Криницина, С. В. Сударева, Ю. В. Блинова, Е. И. Кузнецова, Е. П. Романов, М. В. Дегтярев, О. В. Снигирев, Н. В. Порохов, Д. Н. Раков, Ю. Н. Белотелова, “Структурное состояние образцов ВТСП-проводников второго поколения, полученных методом лазерной абляции”, Физика твердого тела, 2013, том 55, выпуск 2,страницы 227

Эта публикация цитируется в 4 статьях

Сверхпроводимость

Структурное состояние образцов ВТСП-проводников второго поколения, полученных методом лазерной абляции

Т. П. Криницина^a, С. В. Сударева^a, Ю. В. Блинова^a, Е. И. Кузнецова^a, Е. П. Романов^a, М. В. Дегтярев^a, О. В. Снигирев^b, Н. В. Порохов^b, Д. Н. Раков^c, Ю. Н. Белотелова^b

^a Институт физики металлов УрО РАН, Екатеринбург, Россия
^b Московский государственный университет имени М. В. Ломоносова, Москва, Россия
^c Всероссийский научно-исследовательский институт неорганических материалов им. академика А. А. Бочвара, Москва, Россия

Аннотация: Разными методами исследована структура буферных слоев и осажденных пленок YBa$_2$Cu$_3$O$_x$ (Y123), обладающих высокой критической плотностью тока ($\sim$10$^6$ A/cm$^2$). Обнаружено, что сверхпроводящие пленки и буферные слои обладают мелкодисперсной структурой. Считаем, что эта структура вместе с высокой текстурой пленок Y123 типа (001) ответственны за высокую критическую плотность тока. В буферных слоях обнаружена необычная текстура, которая отличается от текстуры подложек и пленок Y123. В сверхпроводящих пленках, осажденных на буферные слои CeO$_2$, наблюдалась система взаимно перпендикулярных линий, которая в нашем случае представляет собой доменную структуру с частицами Y123 на границах.

Поступила в редакцию: 10.07.2012