RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика твердого тела // Архив

Физика твердого тела, 2025, том 67, выпуск 9, страницы 1647–1653 (Mi ftt12249)

Полупроводники

NV$^-$-центры в алмазе и карбиде кремния как основа мазеров, работающих при комнатной температуре

Ю. А. Успенскаяa, А. С. Гуринa, М. В. Учаевa, А. П. Бундаковаa, М. В. Музафароваa, Е. Н. Моховa, С. С. Нагалюкa, В. А. Солтамовa, П. Г. Барановa, Р. А. Бабунцa, С. Я. Килинb

a Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, Санкт-Петербург, Россия
b Национальный исследовательский ядерный университет "МИФИ", Москва, Россия

Аннотация: Успешная реализация когерентного микроволнового усиления (мазерного эффекта) при комнатной температуре (300 K) на основе оптически выстроенных триплетных спиновых подуровней отрицательно заряженных азотно-вакансионных центров (NV$^-$) в алмазе ознаменовала новую веху в развитии твердотельных мазеров. В настоящей работе представлен сравнительный анализ спиново-оптических свойств NV$^-$-центров в алмазе и NV$^-$-центров в карбиде кремния (SiC) с пониженным содержанием магнитного изотопа $^{29}$Si ($I$ = 1/2), с точки зрения перспективности использования последнего для создания мазеров, работающих при комнатной температуре. Продемонстрировано сходство механизмов оптической накачки, формирующей инверсную населенность основного триплетного состояния в обеих системах. Вместе с тем времена поперечной спиновой релаксации $T_2^*\approx$ 1.5 $\mu$s для NV$^-$-центров в изотопно-модифицированном $^{28}$SiC существенно превышают соответствующие значения для алмаза ($T_2^*\approx$ 0.3 $\mu$s). При этом времена продольной релаксации остаются сопоставимыми с требованиями поддержания инверсной населенности: порядка 1.5 ms для NV$^-$ в алмазе и 100 $\mu$s для NV$^-$ в $^{28}$SiC. Сочетание возможности выращивания крупных монокристаллов SiC и высокой допустимой концентрации активных центров открывает перспективы для создания масштабируемой и технологически эффективной платформы для твердотельных мазеров, работающих при комнатной температуре.

Ключевые слова: мазер, электронный парамагнитный резонанс, алмаз, карбид кремния, азотно-вакансионный дефект.

Поступила в редакцию: 20.08.2025
Исправленный вариант: 20.08.2025
Принята в печать: 23.08.2025

DOI: 10.61011/FTT.2025.09.61616.233-25



Реферативные базы данных:


© МИАН, 2026