Аннотация:
В рамках континуальной механики представлены упругие модели дефектов в двумерных (2D) кристаллах. Основой моделей является классификация дефектов, опирающаяся на размерность области задания их собственных дисторсий, т. е. искажений решетки, связанных с процессом образования дефектов. Впервые рассчитано упругое поле бесконечно малой дислокационной петли в пленке. Представлены поля центра дилатации, дислокации, дисклинации и кругового включения в плоских двумерных упругих средах: нанопленках и графенах. Проведено сравнение упругих полей дефектов в 2D- и 3D-кристаллах.