RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика твердого тела // Архив

Физика твердого тела, 2014, том 56, выпуск 12, страницы 2399–2406 (Mi ftt12227)

Эта публикация цитируется в 1 статье

Механические свойства, физика прочности и пластичность

Влияние знака нагрузки на характеристики микро- и нанометровых скачков скорости деформации $\gamma$-облученного политетрафторэтилена

В. В. Шпейзманa, П. Н. Якушевa, Л. И. Трахтенбергb, А. С. Смолянскийc

a Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
b Институт химической физики им. Н. Н. Семенова РАН, г. Москва
c Научно-исследовательский физико-химический институт им. Л. Я. Карпова

Аннотация: Методом лазерной доплеровской деформометрии впервые проведено прецизионное измерение скорости деформации в режиме одноосного растяжения образцов политетрафторэтилена (PTFE), необлученных и подвергнутых воздействию $\gamma$-излучения $^{60}$Со до дозы 30 kGy при комнатной температуре на воздухе. Сопоставлены результаты деформационных испытаний образцов исходного и $\gamma$-облученного PTFE при растяжении и сжатии. Показано, что для скачков как нано-, так и микрометровых масштабов наблюдается тенденция к увеличению их амплитуды при растяжении по сравнению с полученными в условиях одноосного сжатия. Рассчитаны среднеквадратичные отклонения скорости деформации с учетом микромасштабных скачков по всему интервалу деформаций в зависимости от величины напряжений, а также для наномасштабных скачков в пределах перемещения $\Delta l_0$ = 0.325 $\mu$m. Обнаружено, что величина среднеквадратичного отклонения растет при переходе от режима испытаний в условиях одноосного сжатия к растяжению, а также больше для $\gamma$-облученных образцов, чем для необлученных. В качестве возможной причины зависимости характеристик скачков деформации от вида нагружения рассматриваются особенности поведения ансамбля нано- и микротрещин при растяжении и сжатии.

Поступила в редакцию: 28.05.2014


 Англоязычная версия: Physics of the Solid State, 2014, 56:12, 2485–2492

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2026