Аннотация:
Представлена расширенная модель критического состояния, рассматривающая равновесную намагниченность поверхностного слоя и намагниченность центральной области сверхпроводящего образца. Вычислены распределения магнитного потока, реализующиеся в образце. Предложена аналитическая зависимость плотности критического тока от магнитного поля с разным поведением на масштабах малых и больших полей. Установлена связь асимметрии петель намагниченности и плотности критического тока с размером образца. Модель применима для параметризации петель намагниченности как монокристаллических, так и поликристаллических сверхпроводников.