Эта публикация цитируется в 13 статьях

Жидкие кристаллы

Исследование методом импедансной спектроскопии допированных ионным сурфактантом жидких кристаллов

Б. А. Беляев^abc, Н. А. Дрокин^a, А. Н. Масленников<sup>a

a</sup> Институт физики им. Л. В. Киренского СО РАН, г. Красноярск
^b Сибирский федеральный университет, г. Красноярск
^c Сибирский государственный аэрокосмический университет имени академика М. Ф. Решетнева, Красноярск

Аннотация: Методом импедансной спектроскопии исследовано влияние постоянного электрического поля на электрофизические характеристики нематических жидких кристаллов из серии алкилцианобифенилов $n$СВ ($n$ = 6–8) и многокомпонентной жидкокристаллической смеси МВ-1, допированных ионным сурфактантом. Установлено, что импедансные спектры существенно зависят от величины подаваемого на образец постоянного напряжения смещения. Проведена аппроксимация измеренных спектров с использованием разработанных эквивалентных схем ячейки с образцом, позволившая определить емкость двойного электрического слоя, удельную проводимость образцов, а также подвижность, концентрацию и коэффициент диффузии ионов. Показано, что в диапазоне частот $f<$ 100 Hz вблизи электродов измерительной ячейки с жидкокристаллическим образцом возникает область пространственного заряда, приводящая к увеличению активной (резистивной) и реактивной (емкостной) компонент импеданса.

Поступила в редакцию: 16.01.2014

 Англоязычная версия: Physics of the Solid State, 2014, 56:7, 1455–1462

Реферативные базы данных:

•