RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика твердого тела // Архив

Физика твердого тела, 2014, том 56, выпуск 4, страницы 634–640 (Mi ftt11948)

Эта публикация цитируется в 4 статьях

Сверхпроводимость

Рентгеновские фотоэлектронные спектры и состав пленок YBa$_2$Cu$_3$O$_{7-\delta}$, полученных методом лазерной абляции

Ю. В. Блиноваa, М. В. Кузнецовb, В. Р. Галаховa, С. В. Судареваa, Т. П. Криницинаa, Е. И. Кузнецоваa, М. В. Дегтяревa, О. В. Снигиревc, Н. В. Порохов

a Институт физики металлов УрО РАН, Екатеринбург, Россия
b Институт химии твердого тела УрО РАН, Екатеринбург, Россия
c Московский государственный университет имени М. В. Ломоносова

Аннотация: Исследованы рентгеновские фотоэлектронные спектры Y3$d$, Ba3$d_{5/2}$, Cu2$p_{3/2}$, O1$s$ толстых (600 nm) сверхпроводящих пленок YBa$_2$Cu$_3$O$_{7-\delta}$, нанесенных на текстурированные подложки Ni–W с буферными слоями Y$_2$O$_3$+ZrO$_2$, CeO$_2$. Установлено, что после механического удаления поверхностных слоев алмазным скребком (по мере приближения анализируемой области пленки к интерфейсу) уменьшается количество кислорода, в связи с чем уменьшается доля ортофазы, возрастают доли тетрафазы и ионов Cu$^+$. Причиной этого являются упругие напряжения в сверхпроводящей пленке, которые вызваны несоответствием решеток фаз, составляющих композиционный образец. Эти напряжения препятствуют диффузии кислорода во время окислительного отжига. В спектрах сверхпроводящей пленки не обнаружены сигналы от элементов подложки и буферных слоев.

Поступила в редакцию: 22.07.2013


 Англоязычная версия: Physics of the Solid State, 2014, 56:4, 659–665

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2026