Аннотация:
В систематических исследованиях кристаллов из различных технологических партий обнаружено пять электрически активных дефектов с энергией термоактивации перезарядки 0.1–0.7 eV. Обсуждаются особенности их регистрации, связанные с наличием в материале сегнетоэлектрических свойств. Представлена найденная закономерность изменения с температурой энтальпии перезарядки дефекта, регистрируемого в окрестности фазового перехода.
Поступила в редакцию: 27.02.2013 Принята в печать: 02.07.2013