Эта публикация цитируется в 8 статьях

Полупроводники

Исследование структуры и состава пленочных золь-гель-систем CoO$_x$–SiO$_2$

В. С. Левицкий^ab, А. И. Максимов^b, В. А. Мошников^b, Е. И. Теруков<sup>ab

a</sup> Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
^b Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет «ЛЭТИ» им. В. И. Ульянова (Ленина)

Аннотация: Методами золь-гель технологии были получены образцы Si–Co–O в диапазоне составов от 15 до 90% содержания кобальта. Результаты атомно-силовой микроскопии показывают, что предварительное центрифугирование растворов позволяет управлять размерами наносфер, получаемых на стадии формирования золя. Для диагностики фазового состава пленочных и объемных материалов использовалась рамановская спектроскопия и рентгенофазовый анализ. Результаты рентгенофазового анализа и рамановской спектроскопии показывают, что наносферы принадлежат к фазе шпинели Co$_3$O$_4$. Наблюдается корреляция между положением максимумов рамановских полос и размерами наносфер.

Поступила в редакцию: 13.03.2013
Принята в печать: 11.07.2013

 Англоязычная версия: Physics of the Solid State, 2014, 56:2, 270–275

Реферативные базы данных:

•