RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика твердого тела // Архив

Физика твердого тела, 2025, том 67, выпуск 8, страницы 1454–1459 (Mi ftt11821)

Диэлектрики

Структура, микроструктура и оптические свойства тонких пленок мультиферроика SrFe$_{2/3}$W$_{1/3}$O$_3$, выращенных на подложке MgO(001)

А. В. Павленко, А. В. Назаренко, К. М. Жидель, Д. В. Стрюков

Федеральный исследовательский центр Южный научный центр РАН, Ростов-на-Дону, Россия

Аннотация: Методом высокочастотного катодного распыления в атмосфере кислорода выращены пленки мультиферроика SrFe$_{2/3}$W$_{1/3}$O$_3$ на подложке MgO(001). По данным рентгенодифракционного анализа установлено, что полученные пленки SrFe$_{2/3}$W$_{1/3}$O$_3$ являются однофазными и монокристаллическими, и имеют тетрагональную элементарную ячейку с параметрами $a$ = $b$ = 3.930 $\mathring{\mathrm{A}}$ и $c$ = 3.964 $\mathring{\mathrm{A}}$. Показано, что пленки SrFe$_{2/3}$W$_{1/3}$O$_3$ демонстрируют прозрачность ($T$ = 62–75%) в видимом и ближнем инфракрасном диапазонах длин волн. Методом спектральной эллипсометрии впервые определены дисперсионные зависимости показателя преломления $n(\lambda)$ и коэффициента поглощения $k(\lambda)$ пленок ферровольфрамата стронция в диапазоне длин волн $\lambda$ = 350–1100 nm.

Ключевые слова: гетероструктуры, SWFO, эллипсометрия, показатель преломления.

Поступила в редакцию: 30.07.2025
Исправленный вариант: 05.08.2025
Принята в печать: 08.08.2025

DOI: 10.61011/FTT.2025.08.61317.219-25



Реферативные базы данных:


© МИАН, 2026