Углеродные и ван-дер-ваальсовы материалы

Спектры экситонного отражения в тонких слоях WS$_2$

Л. В. Котова, Т. Э. Зедоми, В. П. Кочерешко

Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, Санкт-Петербург, Россия

Аннотация: Исследованы спектры поляризованного отражения света от мультислоев WS$_2$ помещенных на подложку Si/SiO$_2$. Показано, что особенности спектров фотолюминесценции и отражения на энергиях в области 1.9–2.1 eV связаны размерным квантованием поляритонов в слое WS$_2$ толщиной 0.32 mkm. Определены параметры экситонных поляритонов, такие как резонансная частота, сила осциллятора и затухание. При изучении спектральной зависимости круговой поляризации отраженного от образца света обнаружено проявление оптической анизотропии.

Ключевые слова: спектроскопия, дихалькогениды переходных металлов, поляризация, экситоны.

Поступила в редакцию: 13.05.2025
Исправленный вариант: 14.05.2025
Принята в печать: 14.05.2025

DOI: 10.61011/FTT.2025.05.60757.113-25

Реферативные базы данных:

•