Эта публикация цитируется в 1 статье

Сегнетоэлектричество

Получение, особенности структуры, элементный состав и диэлектрические свойства двухслойной структуры на основе тонких пленок мультиферроика BiFeO$_3$ и сегнетоэлектрика (Sr, Ba)Nb$_2$O$_6$

А. В. Павленко^ab, Д. В. Стрюков^a, Ю. А. Кудрявцев^c, Я. Ю. Матяш^a, Н. В. Маломыжева<sup>b

a</sup> Федеральный исследовательский центр Южный научный центр РАН, Ростов-на-Дону, Россия
^b Научно-исследовательский институт физики Южного федерального университета, Ростов-на-Дону, Россия
^c Solid State Electronics Section, Cinvestav, Mexico City, Mexico

Аннотация: С использованием технологии прерывистого напыления на поверхности монокристаллической подложки MgO(001) изготовлены гетероструктуры BiFeO$_3$/(Sr, Ba)Nb$_2$O$_6$. Проведены исследования структуры, профиля состава по толщине, морфологии поверхности и диэлектрических характеристик материалов. Установлено, что несмотря на формирование двух типов ориентационных доменов ($\pm$ 18.4$^\circ$) в слое (Sr, Ba)Nb$_2$O$_6$, верхний слой BiFeO$_3$ находится в соотношении полной параллельной ориентации с подложкой MgO(001). Показано, что состав пленок феррита висмута и ниобата бария-стронция по толщине пленки не изменяется, соответствует составам распыляемых керамических мишеней, признаков наличия буферных слоев не выявлено. Представлены результаты исследования диэлектрических и сегнетоэлектрических характеристик гетероструктуры. Обсуждаются причины выявленных закономерностей.

Ключевые слова: тонкие пленки, гетероструктура, ниобат бария-стронция, феррит висмута.

Поступила в редакцию: 14.07.2022
Исправленный вариант: 14.07.2022
Принята в печать: 18.07.2022

DOI: 10.21883/FTT.2022.12.53648.439

Реферативные базы данных:

•