XXVI Международный симпозиум "Нанофизика и наноэлектроника" , Н. Новгород, 14 - 17 марта 2022 г.
Сверхпроводимость

Влияние отжига на критический ток сверхпроводящих YBCO-мостиков, пересекающих бикристаллическую границу

Д. В. Мастеров, С. А. Павлов, А. Е. Парафин, Л. С. Ревин

Институт физики микроструктур РАН, ФИЦ "Институт прикладной физики Российской академии наук", Нижний Новгород, Россия

Аннотация: Представлены результаты исследования влияния отжига на критический ток YBCO джозефсоновских переходов, полученных методом задающей маски на бикристаллической фианитовой подложке. Зафиксировано сильное, вплоть до пятикратного значения, увеличение критического тока джозефсоновских переходов в результате кратковременного отжига при температуре 500$^\circ$C и давлении кислорода 27 Pa. Такие отжиги позволяют варьировать содержание кислорода в пленке YBCO в области слабой связи. Это открывает возможности по подбору необходимых параметров джозефсоновских переходов для конкретных прикладных задач.

Ключевые слова: джозефсоновские переходы, отжиг, YBCO.

Поступила в редакцию: 29.04.2022
Исправленный вариант: 29.04.2022
Принята в печать: 12.05.2022

DOI: 10.21883/FTT.2022.10.53074.02HH

Реферативные базы данных:

•