Аннотация:
Исследованы возможности контролируемого воздействия ионного облучения (He$^+$ с энергией 20 keV и флюенсом в диапазоне от 3 $\cdot$ 10$^{14}$ до 3 $\cdot$ 10$^{15}$ cm$^{-2}$) как метода модифицирования магнитных свойств и доменной структуры тонких ферромагнитных пленок Co$_{0.35}$Pt$_{0.65}$. Обнаружено, что ионное воздействие обуславливает изменение константы взаимодействия Дзялошинского–Мории и коррелирующее с ним изменение плотности скирмионов. Данный результат показывает возможность однородного ионного облучения как способа управления микромагнитной структурой, а именно процессом формирования скирмионных состояний.