Аннотация:
Комплексы металлов с основаниями Шиффа рассматриваются как перспективные материалы для создания энергозапасающих и фотоэлектрических устройств. В данной работе спектрофотометрическим методом и методом спектроскопии фарадеевского импеданса были изучены полупроводниковые свойства полимерной пленки комплекса никеля с основанием Шиффа саленового типа
(поли-Ni(CH$_3$O-Salen)). Анализ Мотта–Шоттки показал, что полимерная пленка представляет собой полупроводниковый материал с достаточно узкой шириной запрещенной зоны, высокой плотностью носителей заряда и $p$-типом проводимости. Методом спектроскопии фарадеевского импеданса установлена лимитирующая стадия реакции фотоэлектровосстановления кислорода – процесс переноса заряда с пленки на молекулярный кислород.
Ключевые слова:
основания Шиффа, анализ Мотта–Шоттки, фотоэлектрические устройства, полупроводниковые свойства.
Поступила в редакцию: 12.07.2021 Исправленный вариант: 09.09.2021 Принята в печать: 09.09.2021