RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика твердого тела // Архив

Физика твердого тела, 2023, том 65, выпуск 12, страницы 2230–2238 (Mi ftt10922)

Полупроводники

Ферромагнитные слои GaMnAs, полученные имплантацией ионов марганца с последующим импульсным лазерным отжигом

Ю. А. Даниловa, Ю. А. Агафоновb, В. И. Бачуринc, В. А. Быковa, О. В. Вихроваa, В. И. Зиненкоb, И. Л. Калентьеваa, А. В. Кудринa, А. В. Неждановa, А. Е. Парафинd, С. Г. Симакинc, П. А. Юнинd, А. А. Яковлеваa

a Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского, Нижний Новгород, Россия
b Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН, Черноголовка, Россия
c Ярославский филиал Федерального государственного бюджетного учреждения науки Физико-технологического института РАН, Ярославль, Россия
d Институт физики микроструктур РАН, Нижний Новгород, Россия

Аннотация: Методами вторичной ионной масс-спектрометрии, рентгеновской дифракции, комбинационного рассеяния света, измерений эффекта Холла и магнетосопротивления, магнитного циркулярного дихроизма выполнено экспериментальное исследование свойств слоев, полученных имплантацией в полуизолирующий арсенид галлия ионов марганца (энергия 180 keV) с последующим отжигом импульсом эксимерного KrF лазера. Показано, что при дозах ионов от 1 $\cdot$ 10$^{16}$ до 5 $\cdot$ 10$^{16}$ cm$^{-2}$ и плотности энергии лазера 300 mJ/cm$^2$ формируются сильнолегированные слои $p$-типа проводимости, которые по совокупности результатов исследований разными методами обладают ферромагнитными свойствами с температурой Кюри, зависящей от дозы ионов и достигающей 120 K. В работе рассмотрено и учтено влияние ионного распыления на профили примеси. Обнаружено, что при последующем лазерном отжиге наблюдается сегрегация атомов Mn к поверхности GaAs.

Ключевые слова: арсенид галлия, имплантация ионов Mn, лазерный отжиг, аномальный эффект Холла, ферромагнетизм, температура Кюри.

Поступила в редакцию: 17.10.2023
Исправленный вариант: 17.10.2023
Принята в печать: 24.10.2023

DOI: 10.61011/FTT.2023.12.56767.230



Реферативные базы данных:


© МИАН, 2026