Аннотация:
Рассматривается сверхпроводящее состояние неоднородного по толщине слоя, граничащего с несверхпроводящими слоями, которые оказывают на него влияние. В рамках теории Гинзбурга–Ландау (ГЛ) сформулирована методика, позволяющая оценить критические параметры сверхпроводящего слоя для описанной задачи. В разложении свободной энергии по степеням модуля параметра порядка учтен дополнительный член и более точные зависимости коэффициентов разложения от температуры, что позволяет проводить количественные оценки на более широком температурном интервале, чем классическая теория ГЛ. С использованием методики проведено моделирование температурных зависимостей плотности критического тока и критического магнитного поля слоя. Показано, что одновременный учет в расчете неоднородности сверхпроводящего слоя по толщине и влияния граничащих слоев на его состояние позволяет ощутимо улучшить оценку плотности критического тока в сравнении с экспериментальными данными. При этом вид температурной зависимости плотности критического тока изменяется при удалении от критической температуры.
Ключевые слова:
сверхпроводящие пленки, критический ток, теория Гинзбурга–Ландау, неоднородность.
Поступила в редакцию: 29.05.2023 Исправленный вариант: 08.08.2023 Принята в печать: 09.08.2023