Аннотация:
Методом импедансной спектроскопии в интеркалированных образцах Cu$_x$HfSe$_2$ проведено совместное изучение релаксационных процессов при переносе заряда и при смене поляризации в условиях динамического возбуждения. Максимальные значения мнимой составляющей импеданса позволили определить времена релаксации в системе подвижных носителей заряда. В использованных образцах обнаружена значительная частотная дисперсия действительной и мнимой составляющих диэлектрической проницаемости. При использовании формализма диэлектрического модуля определены времена диэлектрической релаксации, уменьшающиеся по величине при возрастании содержания меди в образцах и при повышении температуры. Показано, что времена диэлектрической релаксации оказываются меньшими, чем времена релаксации при переносе заряда, определенные по частотным зависимостям мнимой части комплексного импеданса.