Механические свойства, физика прочности и пластичность
Эволюция дефектов строения стекол SiO$_2$–TiO$_2$ при изменении концентрации TiO$_2$ от нуля до разделения фаз
И. П. Щербаков,
М. В. Нарыкова,
А. Е. Чмель Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, Санкт-Петербург, Россия
Аннотация:
Коэффициент теплового расширения (КТР) стекол системы SiO
$_2$–TiO
$_2$ уменьшается по мере увеличения содержания TiO
$_2$. При концентрации диоксида титана примерно 4–6 mol% (в зависимости от способа синтеза стекла) КТР переходит к отрицательным значениям. При его содержании 8–11 mol% происходит девитрификация. В настоящей работе методами фотолюминесценции и отражательной ИК-спектроскопии исследовано поведение ансамбля дефектов строения композита при увеличении содержания TiO
$_2$ до распада стекла на фазы составляющих оксидов.
Прецизионные измерения плотности бинарного стекла показали, что при концентрации TiO
$_2$ 7.9 mol% происходит ранее не описанное в литературе падение плотности в результате конверсии стекла в поликристаллическую субстанцию, составленную из кристаллитов SiO
$_2$ и TiO
$_2$. В концентрационной области совместимости оксидов ансамбль точечных дефектов включает центры
$\equiv$SiO–Si
$\equiv$ и
$\equiv$Ti–O
$^-$, а также нейтральные кислородные вакансии
$\equiv$Si–Si
$\equiv$ и
$\equiv$Si–Ti
$\equiv$. При концентрации TiO
$_2$ 7.9 mol% группы
$\equiv$Si–Ti
$\equiv$ исчезают, тогда как “мостики” Si–O–Ti остаются стабильными в кристаллизованном материале.
Ключевые слова:
стекло SiO
$_2$–TiO
$_2$, точечные дефекты, структурные дефекты, фотолюминесценция, ИК-спектроскопия.
Поступила в редакцию: 16.02.2023
Исправленный вариант: 16.02.2023
Принята в печать: 01.03.2023
DOI:
10.21883/FTT.2023.04.55297.20