Диэлектрики

Построение 2D-картин рентгеновской дифракции от модельных кристаллов-вискеров арсенида галлия

М. Д. Шарков, Н. Д. Прасолов, А. А. Левин, П. Н. Брунков

Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, Санкт-Петербург, Россия

Аннотация: Смоделирована серия кристаллитов-вискеров GaAs в форме шестиугольных призм с осью, параллельной кристаллографическому направлению [111], и структур, составленных из описанных призм. Для модельных образцов GaAs вычислены картины рентгеновской дифракции. На основе анализа модельной картины рентгеновской дифракции построена аппроксимационная структура из фрагментов призм от массива атомов, полученного путем применения к исходному призматическому модельному кристаллиту GaAs методик молекулярной динамики.

Ключевые слова: вискеры, моделирование рентгеновской дифракции, полупроводники A$^{\mathrm{III}}$B$^{\mathrm{V}}$, арсенид галлия.

Поступила в редакцию: 04.10.2022
Исправленный вариант: 04.10.2022
Принята в печать: 11.10.2022

DOI: 10.21883/FTT.2023.01.53930.493

Реферативные базы данных:

•