Международная конференция ФизикА.СПб/2024
Физика поверхности, тонкие пленки

Диэлектрическая спектроскопия пленок AgI, легированных Cu

А. В. Ильинский^a, Р. А. Кастро^b, В. А. Климов^a, А. А. Кононов^b, И. О. Попова^b, Е. Б. Шадрин<sup>a

a</sup> Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, Санкт-Петербург, Россия
^b Российский государственный педагогический университет им. А. И. Герцена, г. Санкт-Петербург

Аннотация: Установлено, что легирование пленок AgI атомами Cu существенно уменьшает концентрацию равновесных электронов. Она оказывается столь малой, что массив свободных электронов в зоне проводимости нанокристаллитов пленки не в состоянии полностью экранировать внешнее зондирующее электрическое поле, прикладываемое к образцу в методе диэлектрической спектроскопии. Показано, что данное обстоятельство позволяет наблюдать при исследовании ДС AgI:Cu дрейф свободных электронов, свободных дырок, массивных ионов серебра. Определены параметры петли термического гистерезиса частотного положения максимума функции диэлектрических потерь. Определены времена максвелловской релаксации для электронов, дырок и системы “расплавленных” ионов серебра.

Ключевые слова: диэлектрические спектры, суперионики, йодид серебра, пленки AgI, фазовый переход полупроводник-суперионик.

Поступила в редакцию: 30.04.2024
Исправленный вариант: 28.10.2024
Принята в печать: 30.10.2024

DOI: 10.61011/FTT.2024.12.59567.6543PA

Реферативные базы данных:

•