Аннотация:
Представлены результаты исследований зависимостей тока от приложенного напряжения, низкочастотного шума и импедансных характеристик в тонких пленках на основе углеродных квантовых точек (УКТ, CQDs), полученных из L-лизина с использованием микроволновой техники, которая позволяет синтезировать УКТ со средним размером менее 10 nm. Результаты импедансной спектроскопии показывают, что графики Коула–Коула находятся в хорошем соответствии с моделью эквивалентной схемы и представляют собой последовательное сопротивление, рекомбинационное сопротивление и геометрическую емкость соответственно, которые возникают из-за накопления заряда, сопротивления переносу заряда и/или дополнительных межфазных электронных состояний. Рассмотрены механизмы протекания тока, формирования токового шума, возникновения дефектов. В исследуемом диапазоне частот ($f\le$ 8000 Hz) наиболее четко проявляется шум $1/f$, связанный с колебаниями плотности носителей заряда. Обсуждается возможный механизм, ответственный за транспорт носителей заряда в УКТ-пленках. Полученные результаты позволяют прогнозировать свойства оптоэлектронных устройств на основе УКТ.
Полный текст:
PDF файл (287 kB)