Аннотация:
Релаксорный сегнетоэлектрик PbNi$_{1/3}$Nb$_{2/3}$O$_3$ исследуется методом нестационарной фотоэдс на длине волны света $\lambda$ = 457 nm. Данная длина волны соответствует краю поглощения света кристаллом, приводя к приповерхностной диффузионной записи зарядовых решеток и соответствующему приповерхностному возбуждению сигнала нестационарной фотоэдс. Амплитуда сигнала зависит от частоты фазовой модуляции света, интенсивности и пространственной частоты интерференционной картины. Путем анализа данных зависимостей оцениваются фотоэлектрические параметры кристалла – тип, величина и время релаксации фотопроводимости, а также диффузионная длина носителей заряда.