А. Д. Мокрушин, А. В. Шишкин, И. А. Айзенберг, В. И. Гольданский, “Исследование радиационных дефектов в кварцевых стеклах позитронным и оптическим методами”, Докл. АН СССР, 1989, том 308, номер 2,страницы 362

ФИЗИКА

Исследование радиационных дефектов в кварцевых стеклах позитронным и оптическим методами

А. Д. Мокрушин^ab, А. В. Шишкин^ab, И. А. Айзенберг^ab, В. И. Гольданский^ab

^a Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов АН СССР, Черноголовка Московской обл.
^b Московский инженерно-физический институт

УДК: 666.11.01

Поступило: 06.06.1988