ФИЗИКА

Исследование асимметрии атомного изображения поверхностной решетки графита методом СТМ

С. Д. Алекперов^ab, С. И. Васильев^ab, В. Б. Леонов^ab, В. И. Панов^ab, А. Э. Семенов<sup>ab

a</sup> Московский государственный университет имени М. В. Ломоносова
^b Московский институт электронной техники

УДК: 539.21

Статья представлена к публикации: Л. В. Келдыш
Поступило: 18.07.1988