КРИСТАЛЛОГРАФИЯ

Электронно-микроскопическое исследование структуры приграничной области бикристаллов, полученных твердофазным сращиванием

А. Л. Васильев, Н. А. Киселев, М. Е. Кишнева, В. Р. Регель, Е. А. Степанцов

Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова АН СССР, г. Москва

УДК: S48.526./548.4/548.0:537

Поступило: 11.11.1985