Применение систем позиционирования для получения и обработки перекрывающихся изображений наночастиц при контроле дисперсности

П. В. Гуляев, Ю. К. Шелковников, К. С. Ермолин

Институт механики Уральского отделения РАН, 426067, г. Ижевск, ул. Т. Барамзиной, 34

Аннотация: В статье рассмотрены принципы применения приводов систем позиционирования в процессе контроля дисперсности наночастиц. Представлены возможности использования трения в направляющих предметного столика для улучшения эксплуатационных параметров системы позиционирования. Показано, что применение в приводах датчиков ускорения и алгоритмов обработки перекрывающихся изображений позволяет реализовать координатную привязку наночастиц при небольшом коэффициенте перекрытия.

Ключевые слова: сканирующая зондовая микроскопия, координатная привязка, приводы микроперемещений, датчики микроперемещений, характерные точки изображения, сдвиг, поворот изображений.

УДК: 621.385.833