Техническая диагностика

Способ исправления ошибок, вызванных отказами элементов памяти запоминающих устройств

И. А. Дичка, В. И. Корнейчук, М. Н. Орлова

Киев

Аннотация: Рассматривается способ коррекции ошибок, вызванных отказами элементов памяти запоминающих устройств, позволяющий существенно повысить корректирующие свойства применяемых кодов за счет введения временной избыточности. При использовании кода с корректирующей способностью $s$ способ позволяет исправлять ошибки кратностью до $2s+1$ и обнаруживать отказы произвольной кратности. Высокие обнаруживающие и корректирующие свойства метода обеспечиваются сравнительно простыми средствами. Предлагаемый способ позволяет повысить надежность запоминающих устройств и увеличить процент выхода годных к использованию микросхем памяти.

УДК: 681.327


Поступила в редакцию: 03.01.1984

 Англоязычная версия: Automation and Remote Control, 1985, 46:4, 495–501

Реферативные базы данных:

•