Техническая диагностика

Об одном способе обеспечения легкотестируемости логических схем

А. М. Романкевич^a, Н. Д. Стукач<sup>b

a</sup> Киевский политехнический институт
^b Институт кибернетики АН УССР, Киев

Аннотация: В рамках известной идеи о переходе от некоторой схемы 1 к схеме 2, состоящей из схемы 1 и схемы 3, сжимающей реакцию тестируемой схемы 1, рассматриваются принципы построения схемы 1, позволяющие выполнить схему 3 в виде набора “длинных триггеров”. Это позволяет уменьшить объем теста схемы 2, выявляющего константные отказы произвольной кратности, практически до $3n$ бит, где $n$ – число входов схемы 1.

УДК: 621.382:681.14-32


Поступила в редакцию: 13.04.1990