|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru
-
Исследование параметров плоских оптических волноводов, полученных методом ионного обмена в стекле
Квантовая электроника, 6:5 (1979), 1043–1047
-
Дифракционный метод измерения показателя преломления на поверхности материала
Квантовая электроника, 5:6 (1978), 1318–1322
-
Асимметричные решетки на поверхности стеклянных волноводов
Квантовая электроника, 5:1 (1978), 218–220
-
Спектральные и генерационные свойства $(\mathrm{Li}-\mathrm{Nd})$-фосфатного стекла
Докл. АН СССР, 227:1 (1976), 75–77
-
О перестройке частоты излучения тонкопленочного лазера
Квантовая электроника, 3:11 (1976), 2487–2490
-
Физико-химические, спектрально-люминесцентные и генерационные исследования фосфатных стекол
с высокой концентрацией неодима
Квантовая электроника, 3:10 (1976), 2243–2247
-
Излучение E-волн на гофрированном участке волновода
Квантовая электроника, 3:5 (1976), 1056–1061
-
Излучение и отражение света на гофрированном участке волновода
Квантовая электроника, 2:11 (1975), 2433–2439
-
Миниатюрный лазер и связь его с тонкопленочным оптическим волноводом
Квантовая электроника, 1:12 (1974), 2576–2579
-
Излучение поверхностных световых волн на гофрированном участке тонкопленочного волновода
Квантовая электроника, 1:7 (1974), 1519–1526
-
Тонкопленочный селектор мод и возможные его применения
Квантовая электроника, 1:2 (1974), 444–447
-
Перестраиваемый тонкопленочный лазер
Квантовая электроника, 1973, № 6(18), 74–78
-
Призменное возбуждающее устройство с параболическим профилем зазора
Квантовая электроника, 1973, № 4(16), 101–103
-
Измерение времени релаксации τ21 в кристалле Y3Al5O12–Nd3+
Квантовая электроника, 1972, № 5(11), 103–106
© , 2026