Публикации в базе данных Math-Net.Ru
-
Электронная структура аморфного SiO$_{x}$ переменного состава
Письма в ЖЭТФ, 108:2 (2018), 114–118
-
Кремний-кремниевая Si–Si-связь как глубокая ловушка для электронов и дырок в нитриде кремния
Письма в ЖЭТФ, 103:3 (2016), 189–193
-
Сдвиг порога фотоэмиссии в полупроводниках
A$_{3}$B$_{5}$ и A$_{2}$B$_{6}$
Письма в ЖЭТФ, 99:6 (2014), 378–381
-
Электронная структура SiN$_{x}$
Письма в ЖЭТФ, 98:11 (2013), 801–805
-
Адсорбция водорода на
Si (111). Сравнение метода обобщенных решеток Бете и метода рекурсий
Физика и техника полупроводников, 18:6 (1984), 1025–1028
© , 2026