Публикации в базе данных Math-Net.Ru
-
Оптическая диагностика гетероструктур на основе InGaAsP/InP(001)
Письма в ЖТФ, 50:15 (2024), 47–50
-
Релаксация напряжений в InGaAsP/InP-гетероструктурах для преобразователей лазерного излучения с длиной волны 1064 nm
Письма в ЖТФ, 43:2 (2017), 3–9
-
Спектроскопия анизотропного отражения света от металлических
нанокластеров, сформированных на поверхности полупроводника
Письма в ЖЭТФ, 98:10 (2013), 687–692
-
Электронная оже-спектроскопия и спектроскопия анизотропного отражения монослойных нитридных пленок на поверхностях (001) кристаллов GaAs и GaSb
Физика и техника полупроводников, 46:11 (2012), 1463–1467
-
Структурное исследование тонких пленок фталоцианина меди методом спектроскопии анизотропного отражения
Письма в ЖТФ, 38:6 (2012), 68–76
© , 2026