|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru
-
О возможности реализации волн горения и детонации в системе ядерных изомеров
Письма в ЖЭТФ, 98:11 (2013), 772–775
-
Тепловая безопасность захоронений аварийных объектов атомной энергетики
Докл. АН СССР, 313:2 (1990), 333–336
-
Взаимодействие излучения импульсно-периодического XeCl-лазера с металлами
Квантовая электроника, 17:10 (1990), 1321–1326
-
Возбуждение и высвечивание изомерных ядер в лазерной плазме и поле интенсивности лазерного излучения
Квантовая электроника, 17:4 (1990), 496–500
-
О механизмах стимулирования внутриядерных переходов в горячей плазме
Докл. АН СССР, 305:4 (1989), 839–840
-
Высвечивание долгоживущих изомеров в плазме
Докл. АН СССР, 299:1 (1988), 99–102
-
Динамика плазмы оптического пробоя при глубоком проплавлении металлов
Прикл. мех. техн. физ., 29:5 (1988), 7–13
-
Динамика выплеска расплава металлов при облучении одиночными импульсами CO2-лазера
Квантовая электроника, 15:3 (1988), 638–640
-
Влияние плазмы приповерхностного пробоя на процессы сверления металлов излучением импульсных CO2-лазеров
Квантовая электроника, 15:3 (1988), 539–543
-
Влияние пространственной структуры излучения на динамику
светодетонационной волны в сфокусированном луче
ЖТФ, 57:7 (1987), 1427–1429
-
Лазерные волны поглощения в металлических капиллярах
Квантовая электроника, 14:7 (1987), 1485–1494
-
Теплогидродинамические модели воздействия импульсно-периодического излучения на материалы
Квантовая электроника, 14:2 (1987), 271–278
-
Приэлектродные эффекты в импульсно-периодическом эксимерном лазере
Квантовая электроника, 13:12 (1986), 2403–2407
-
Влияние приэлектродных процессов на контрагирование объемного разряда в импульсно-периодических лазерах
Квантовая электроника, 12:5 (1985), 971–977
-
Вынос материала твердой мишени при комбинированном воздействии двух лазерных импульсов разной длительности
Квантовая электроника, 11:6 (1984), 1220–1224
-
Поправка к статье: Влияние плазмы приповерхностного пробоя на процессы сверления металлов излучением импульсных CO2-лазеров
Квантовая электроника, 15:5 (1988), 1080
© , 2026