RUS  ENG
Полная версия
ПЕРСОНАЛИИ

Волков Петр Витальевич

Публикации в базе данных Math-Net.Ru

  1. Оптимизация параметров кремниевого электрооптического фазовращателя, работающего на эффекте обеднения свободными носителями

    Физика и техника полупроводников, 59:1 (2025),  16–22
  2. Исследование влияния маломодовой структуры поля на параметры $Y$-делителей фотонной интегральной схемы

    Письма в ЖТФ, 51:19 (2025),  19–22
  3. Метод детектирования малых колебаний на основе гомодинной демодуляции с тандемным низкокогерентным интерферометром

    ЖТФ, 93:7 (2023),  959–962
  4. Экспериментальное исследование процессов теплопереноса в тонкопленочных структурах на основе перовскитов методом низкокогерентной тандемной интерферометрии

    Письма в ЖТФ, 47:23 (2021),  31–34
  5. Детекторы на основе низкобарьерных диодов Мотта и их характеристики в диапазоне 150–250 GHz

    Письма в ЖТФ, 45:5 (2019),  56–58
  6. Исследование структурных и морфологических свойств HPHT алмазных подложек

    Физика и техника полупроводников, 52:11 (2018),  1321–1325
  7. Контроль лазерной микро- и нанообработки поверхности алмаза с помощью низкокогерентной интерферометрии

    Квантовая электроника, 47:11 (2017),  1012–1016
  8. Измерение толщины полупроводниковых подложек в условиях нестационарной температуры с использованием низкокогерентного тандемного интерферометра

    Письма в ЖТФ, 41:3 (2015),  8–16
  9. Асферический однолинзовый объектив для систем радиовидения миллиметрового диапазона длин волн

    ЖТФ, 84:4 (2014),  120–125
  10. Экспериментальное исследование матрицы детекторов системы радиовидения 3-mm диапазона длин волн

    Письма в ЖТФ, 39:12 (2013),  44–49
  11. Оптический мониторинг технологических параметров в условиях молекулярно-пучковой эпитаксии

    Физика и техника полупроводников, 46:12 (2012),  1505–1509
  12. Измерение оптического поглощения пластин поликристаллического CVD-алмаза фазовым фототермическим методом на длине волны 10.6 мкм

    Квантовая электроника, 38:12 (2008),  1171–1178
  13. Контроль лазерной обработки поликристаллических алмазных пластин методом низкокогерентной оптической интерферометрии

    Квантовая электроника, 35:7 (2005),  622–626


© МИАН, 2026