|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru
-
Кристаллическая полость и резонаторы для рентгеновского излучения (обзор)
ЖТФ, 95:8 (2025), 1447–1457
-
Метод накачки и рентгеновского зондирования
УФН, 195:9 (2025), 962–981
-
Минимизация тепловых искажений, возникающих в оптических элементах под воздействием интенсивных рентгеновских пучков (обзор)
ЖТФ, 94:1 (2024), 7–25
-
Рентгеновская темнопольная визуализация
Оптика и спектроскопия, 132:4 (2024), 465–482
-
Рентгеновская рефракционная интроскопия
УФН, 194:4 (2024), 345–359
-
Рентгеновские интерферометры Тальбота и Тальбота – Лау
УФН, 193:10 (2023), 1047–1070
-
Адаптивная и активная рентгеновская оптика
Оптика и спектроскопия, 130:8 (2022), 1229–1247
-
Фокусирующая дифракционная оптика для орбитальных телескопов (обзор)
Оптика и спектроскопия, 130:7 (2022), 1041–1067
-
Методы рентгеновской дифракционной топографии (Обзор)
Физика твердого тела, 63:2 (2021), 165–190
-
Фокусирующая капиллярная и пористая рентгеновская оптика
Оптика и спектроскопия, 129:11 (2021), 1444–1460
-
Прецизионное определение параметров кристаллической решётки
УФН, 190:9 (2020), 971–994
-
Многослойные рентгеновские интерференционные структуры
УФН, 189:11 (2019), 1137–1171
-
Рентгеновская флуоресцентная визуализация
УФН, 188:10 (2018), 1081–1102
-
Рентгеновская микроскопия
УФН, 187:2 (2017), 201–219
-
Рентгеновская голография
УФН, 185:4 (2015), 393–413
-
Рентгеновские кристаллические интерферометры
УФН, 184:11 (2014), 1217–1236
-
Рентгенодифрактометрическое исследование нарушенных приповерхностных слоев Si(111) и In$_{0.5}$Ga$_{0.5}$P/GaAs(111) на основе модели постоянного градиента деформации
Физика твердого тела, 31:4 (1989), 74–81
-
Кристаллическая структура $\mathrm{Na}_2\mathrm{Cu}[\mathrm{Si}_4\mathrm{O}_{10}]$
Докл. АН СССР, 205:4 (1972), 831–833
© , 2026