|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru
-
Оценка надежности гетеролазеров при их старении в процессе облучения потоком быстрых частиц
Квантовая электроника, 41:2 (2011), 99–102
-
Pесурсные возможности одноэлементных гетеролазеров (λ ≈ 0.985 мкм) с мощностью излучения 1 Вт
Квантовая электроника, 31:5 (2001), 417–418
-
Статистические особенности деградации гетеролазеров при старении и облучении
Квантовая электроника, 30:4 (2000), 321–322
-
Расчет ресурса мощных гетеролазеров (λ = 0.98 мкм)
Квантовая электроника, 23:2 (1996), 112
-
Прогнозирование параметров распределения времени отказов инжекционных гетеролазеров
Квантовая электроника, 22:7 (1995), 649–650
-
Оценка степени устойчивости непрерывных InGaAsP- и GaAlAs-гетеролазеров к деградации при старении и облучении
Квантовая электроника, 21:5 (1994), 422
-
Определение энергии активации процесса деградации InGaAsP- гетеролазеров на λ = 1.55 мкм
Квантовая электроника, 20:9 (1993), 837–838
-
Изменение порогового тока InGaAsP-гетеролазеров (λ = 1,55 мкм) при старении и облучении
Квантовая электроника, 20:1 (1993), 45–46
-
Ресурсные исследования мощных непрерывных гетеролазеров
Квантовая электроника, 18:5 (1991), 585–587
-
Увеличение порогового тока InGaAsP-гетеролазеров в процессе старения при повышенной температуре
Квантовая электроника, 18:2 (1991), 175–176
-
Деградация гетеролазеров в зависимости от режима накачки
Квантовая электроника, 16:8 (1989), 1595–1598
-
Ускоренная оценка долговечности инжекционных лазеров и передающих модулей
Квантовая электроника, 10:10 (1983), 2118–2120
© , 2026