|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru
-
Моделирование процессов облучения структур Cr/4H-SiC высокоэнергетическими ионами Ar
ЖТФ, 95:6 (2025), 1157–1163
-
4H-SiC-фотодиоды с микронаноструктурированной поверхностью приемной области
Физика и техника полупроводников, 59:1 (2025), 43–47
-
Самокаталитический рост GaInP-наноструктур на кремнии из паровой фазы
Письма в ЖТФ, 51:9 (2025), 45–49
-
Определение эффективного заряда плазмы по ее излучению в рентгеновской области спектра
Письма в ЖТФ, 50:24 (2024), 63–66
-
Памяти Серенкова И.Т. Кремниевый лавинный фотодиод с фронтом нарастания фотоотклика меньше 350 ps на длине волны 1064 nm
Письма в ЖТФ, 50:6 (2024), 15–18
-
Эффект геттерирования в Cr/4$H$-SiC УФ фотодетекторах при облучении протонами с энергией 15 MeV
ЖТФ, 93:4 (2023), 562–567
-
Температурная зависимость дислокационной электролюминесценции в кремниевых светодиодах с кислородными преципитатами
Физика и техника полупроводников, 57:4 (2023), 289–294
-
Применение технологии реактивного ионно-плазменного травления для управления чувствительностью 4H-SiC-фотодиодов
Физика и техника полупроводников, 56:10 (2022), 997–1001
-
Кремниевые светодиоды с дислокационной люминесценцией, сформированные с участием кислородных преципитатов
Физика и техника полупроводников, 56:9 (2022), 904–907
-
Облучение ионами аргона Cr/4H-SiC-фотоприемников
Физика и техника полупроводников, 56:2 (2022), 254–258
-
Памяти Е.М. Круглова и Филимонова В.В. Квантовый выход кремниевого лавинного фотодиода в диапазонах длин волн 114–170 и 210–1100 nm
Письма в ЖТФ, 48:5 (2022), 3–6
-
Измерение электронной температуры плазмы фольговым рентгеновским спектрометром, установленным на токамаках ТУМАН-3М и Глобус-М2
ЖТФ, 91:12 (2021), 1922–1929
-
Квантовый выход кремниевого лавинного фотодиода в диапазоне длин волн 120–170 nm
ЖТФ, 90:8 (2020), 1386–1392
-
Детектор для регистрации электронов с энергией 5–30 keV в установке “Троицк ню-масс”
ЖТФ, 90:4 (2020), 693–698
-
Структурные, электрические и оптические свойства 4$H$-SiC для ультрафиолетовых фотоприемников
Физика и техника полупроводников, 54:12 (2020), 1368–1373
-
Структурные и оптические характеристики ультрафиолетовых 4$H$-SiC-детекторов, облученных ионами аргона
Физика и техника полупроводников, 54:11 (2020), 1244–1248
-
Кремниевые светодиоды с люминесценцией (113) дефектов
Физика и техника полупроводников, 54:6 (2020), 580–584
-
Влияние температуры на характеристики 4$H$-SiC-фотоприемника
Физика и техника полупроводников, 54:2 (2020), 195–201
-
Облучение протонами 4$H$-SiC фотоприемников с барьером Шоттки
Физика и техника полупроводников, 53:6 (2019), 856–861
-
Квантовый выход кремниевого XUV-лавинного фотодиода в диапазоне длин волн 320–1100 nm
Письма в ЖТФ, 45:24 (2019), 10–13
-
Характеристики кремниевого лавинного фотодиода для ближнего ИК-диапазона
Письма в ЖТФ, 45:15 (2019), 40–42
-
Регистрация ультрафиолетового излучения широких атмосферных ливней: перспективы для черенковской гамма-астрономии
ЖТФ, 88:11 (2018), 1655–1666
-
Черенковские гамма-телескопы: прошлое, настоящее, будущее. Проект ALEGRO
ЖТФ, 87:6 (2017), 803–821
-
Инжекционная терагерцовая электролюминесценция кремниевых $p$–$n$-структур
Физика и техника полупроводников, 51:5 (2017), 632–636
-
Поглощение лазерного излучения в создаваемой им плазме при использовании газовых микроструй в качестве мишеней
Письма в ЖТФ, 43:1 (2017), 53–60
-
Влияние дозы имплантации и длительности отжига на люминесцентные свойства (113) дефектов в Si, имплантированном ионами кислорода
Физика твердого тела, 58:12 (2016), 2411–2414
-
Электролюминесцентные свойства светодиодов на основе $p$-Si, облученного электронами
Физика и техника полупроводников, 50:2 (2016), 254–258
-
Влияние условий изготовления светодиодов на основе SiGe на их люминесцентные и электрофизические свойства
Физика и техника полупроводников, 50:2 (2016), 250–253
-
Si : Si светодиоды с дислокационной люминесценцией при комнатной температуре
Физика и техника полупроводников, 50:2 (2016), 241–244
-
Квантовая эффективность 4$H$-SiC-детекторов в диапазоне 114–400 nm
Письма в ЖТФ, 42:20 (2016), 73–78
-
Воздействие УФ предыонизационного импульса на выход коротковолнового излучения из лазерно-плазменного источника с Xe газоструйной мишенью
Письма в ЖТФ, 40:15 (2014), 38–44
-
Исследование фотоответа кремниевого мультипиксельного счетчика фотонов в вакуумном ультрафиолете
Письма в ЖТФ, 40:8 (2014), 23–29
-
Источники электромагнитного излучения на основе малоиндуктивного протяженного $z$-разряда
ЖТФ, 83:2 (2013), 43–51
-
Восстановление фотоответа кремниевых фотодиодов после облучения в вакуумном ультрафиолете
Физика и техника полупроводников, 47:2 (2013), 178–181
-
Кремниевые детекторы с вольт-амперной характеристикой “идеального” диода в приборостроении
Физика и техника полупроводников, 47:2 (2013), 174–177
-
Исследование стабильности кремниевых фотодиодов в вакуумном ультрафиолете
Письма в ЖТФ, 38:17 (2012), 69–77
-
Кремниевый фотодиод для экстремального ультрафиолетового диапазона спектра с селективным Zr/Si-покрытием
Квантовая электроника, 42:10 (2012), 943–948
-
Анализ условий срыва генерации мод резонатора Фабри–Перо в полупроводниковых лазерах с полосковым контактом
Физика и техника полупроводников, 45:10 (2011), 1431–1438
© , 2026