Сотская Людмила Ивановна

Публикации в базе данных Math-Net.Ru

1. Максимизация чувствительности тонкопленочных металлодиэлектрических рефрактометров
   
   Оптика и спектроскопия, 133:8 (2025),  896–906
2. Оптические характеристики легированных бором кремниевых пластин после быстрого термического отжига
   
   Оптика и спектроскопия, 133:8 (2025),  874–880
3. Метод $m$-линий при рефлектометрии ультратонких слоев
   
   ЖТФ, 94:2 (2024),  267–277
4. Фурье-анализ мод микроструктурных оптических волокон
   
   ЖТФ, 92:12 (2022),  1898–1908
5. Чувствительность отражательных терагерцовых сенсоров водных растворов
   
   ЖТФ, 91:2 (2021),  315–325
6. Эллипсометрия металлических пленок в условиях аномального скин-эффекта
   
   Оптика и спектроскопия, 129:7 (2021),  889–898
7. Оптические характеристики неоднородного слоя титаната бария, легированного европием
   
   Оптика и спектроскопия, 129:4 (2021),  506–511
8. Спектроскопия слоев на плоскопараллельных подложках
   
   Оптика и спектроскопия, 128:8 (2020),  1133–1143
9. Расчет волноводного зонда для терагерцовой спектроскопии слоистой среды
   
   ПФМТ, 2020, № 1(42),  55–60
10. Оптические характеристики пленок титаната стронция, полученных золь-гель методом
    
    Оптика и спектроскопия, 125:4 (2018),  473–478
11. Распространение терагерцовых импульсов в капиллярных волноводах с металлизированной границей
    
    Компьютерная оптика, 41:6 (2017),  803–811
12. Волноводная спектроскопия двухслойных структур
    
    ЖТФ, 85:8 (2015),  116–123
13. Diffraction of light beam on microstructured fiber
    
    Компьютерная оптика, 38:1 (2014),  11–19
14. Призменное возбуждение вытекающих мод тонких пленок
    
    ЖТФ, 83:11 (2013),  105–115
15. Учет влияния естественного поверхностного слоя при исследовании кремниевых пластин методом спектральной эллипсометрии
    
    ПФМТ, 2012, № 1(10),  26–30
16. Круговой фурье-анализ мод микроструктурных оптических волокон со сложным сечением образующих каналов
    
    Письма в ЖТФ, 36:10 (2010),  81–90