|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru
-
Сверхбыстрая кинетика люминесценции и эффекты локализации неравновесных носителей в вырожденных слоях $n$-InGa
Письма в ЖЭТФ, 121:8 (2025), 688–695
-
Диоды Шоттки на основе монокристаллических гетероструктур Al/AlGaN/GaN для микроволнового детектирования с нулевым смещением
ЖТФ, 95:6 (2025), 1148–1156
-
Фотоиндуцированная перенормировка запрещенной зоны в вырожденных узкозонных эпитаксиальных пленках $n$-InGaN
Физика и техника полупроводников, 59:9 (2025), 563–570
-
Формирование планарных структур с InGaN-слоями для источников света красного диапазона длин волн
Физика и техника полупроводников, 59:7 (2025), 406–413
-
Рост атомарно-гладких слоев AlN на подложках Si(111) с предварительным формированием аморфного слоя Si$_x$N$_y$ методом молекулярно-пучковой эпитаксии с плазменной активацией азота
Письма в ЖТФ, 51:14 (2025), 39–43
-
Влияние отношения потоков III и V групп на структурные, излучательные свойства и стимулированное излучение планарных структур с InGaN-слоями в ИК диапазоне
Физика и техника полупроводников, 58:4 (2024), 220–225
-
Особенности формирования объемных слоев In$_x$Ga$_{1-x}$N в зоне несмешиваемости твердых растворов ($x\sim$ 0.6) методом молекулярно-пучковой эпитаксии с плазменной активацией азота
Физика и техника полупроводников, 57:6 (2023), 444–450
-
Формирование методом молекулярно-пучковой эпитаксии с плазменной активацией азота гетероструктур с множественными квантовыми ямами InN/InGaN на сапфире
Физика и техника полупроводников, 56:9 (2022), 848–854
-
Формирование слоев InGaN средних составов методом МПЭ ПА для лазерных источников красного и ИК диапазона
Физика и техника полупроводников, 56:7 (2022), 700–704
-
Особенности структурных и оптических свойств InGaN-слоев, полученных методом МПЭ ПА с импульсной подачей потоков металлов
Физика и техника полупроводников, 55:9 (2021), 766–772
-
Излучательные свойства сильно легированных эпитаксиальных слоев нитрида индия
Физика и техника полупроводников, 53:10 (2019), 1395–1400
-
Особенности спектров фотовозбуждения эпитаксиальных слоев InN, выращенных методом молекулярно-пучковой эпитаксии с плазменной активацией азота
Физика и техника полупроводников, 51:12 (2017), 1594–1598
-
Эпитаксиальные слои GaN на подложках лангасита, полученные методом МПЭ с плазменной активацией азота
Физика и техника полупроводников, 50:11 (2016), 1532–1536
-
Особенности роста InN методом МПЭ с плазменной активацией азота при различных соотношениях потоков элементов III и V групп
Физика и техника полупроводников, 50:2 (2016), 264–268
-
Спектры возбуждения и кинетика фотолюминесценции в структурах с самоформирующимися Ge(Si) наноостровками
Физика и техника полупроводников, 49:11 (2015), 1458–1462
-
Структурные и оптические свойства метастабильных пленок SiGe/Si с низким содержанием германия
Физика твердого тела, 56:10 (2014), 1896–1905
-
Новый подход к диагностике наноостровков в гетероструктурах Ge$_x$Si$_{1-x}$/Si методом вторично-ионной масс-спектрометрии
Письма в ЖТФ, 40:14 (2014), 36–46
-
Исследование многослойных полупроводниковых SiGe-структур методами рентгеновской дифрактометрии, малоугловой рефлектометрии и масс-спектрометрии вторичных ионов
Физика и техника полупроводников, 47:12 (2013), 1580–1585
-
Кинетика фотолюминесценции самоформирующихся Ge(Si) островков в многослойных структурах SiGe/Si и SiGe/SOI
Физика и техника полупроводников, 47:11 (2013), 1509–1512
-
Переход от двумерного к трехмерному росту пленки Ge при ее осаждении на релаксированные SiGe/Si(001) буферные слои
Физика и техника полупроводников, 47:3 (2013), 404–409
-
Влияние толщины кремниевого разделительного слоя на электролюминесценцию многослойных структур с самоформирующимися островками Ge(Si)/Si(001)
Физика и техника полупроводников, 46:11 (2012), 1448–1452
-
Эффекты латерального упорядочения самоорганизованных наноостровков SiGe, выращенных на напряженных буферных слоях Si$_{1-x}$Ge$_x$
Физика и техника полупроводников, 46:5 (2012), 665–672
-
Метод спектроскопии возбуждения фотолюминесценции, модифицированный для исследования структур с самоформирующимися Ge(Si)/Si(001) наноостровками
Письма в ЖТФ, 38:18 (2012), 7–15
-
Влияние барьера для электронов на конденсацию экситонов и многочастичных состояний в квантовых ямах SiGe/Si
Письма в ЖЭТФ, 94:1 (2011), 63–67
-
Сравнительный анализ радиационного воздействия на электролюминесценцию кремния и SiGe/Si(001)-гетероструктур с самоформирующимися наноостровками
Физика и техника полупроводников, 45:2 (2011), 230–234
-
Ширина линии фотолюминесценции от самоформирующихся островков Ge(Si), заключенных между напряженными Si-слоями
Физика и техника полупроводников, 45:2 (2011), 202–206
-
Электронно-дырочная жидкость и экситонные молекулы в квазидвумерных SiGe-слоях гетероструктур Si/SiGe/Si
Письма в ЖЭТФ, 92:5 (2010), 341–345
-
Использование кластерных вторичных ионов Ge$_2^-$, Ge$_3^-$ для повышения разрешения по глубине при послойном элементном анализе полупроводниковых гетероструктур GeSi/Si методом ВИМС
Физика и техника полупроводников, 44:3 (2010), 418–421
-
Влияние радиационного воздействия на люминесцентные свойства низкоразмерных гетероструктур SiGe/Si(001)
Физика и техника полупроводников, 44:3 (2010), 346–351
-
Низкоэнергетическая фотолюминесценция структур с GeSi/Si(001) самоорганизующимися наноостровками
Письма в ЖЭТФ, 76:6 (2002), 425–429
© , 2026