|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru
-
Structure of the hidden interfaces in liquid crystal electro-optical cell studied by X-ray scattering and atomic force microscopy
Письма в ЖЭТФ, 122:7 (2025), 416–418
-
Изменение фрактальной геометрии микротрещин в процессе деформирования: рентгеновская микротомография, акустическая эмиссия и моделирование методом дискретных элементов
Физика твердого тела, 66:9 (2024), 1623–1630
-
Метод микроволнового синтеза для получения температурно-активированных углеродных материалов
ЖТФ, 94:6 (2024), 871–880
-
Микроскопия второй гармоники из приповерхностной плазмы, зажигаемой остросфокусированным пучком фемтосекундного волоконного лазера
Оптика и спектроскопия, 132:1 (2024), 34–41
-
Новые подходы к трёхмерной реконструкции дислокаций в кремнии по данным рентгеновской топо-томографии
УФН, 193:9 (2023), 1001–1009
-
Получение регулярных металлических и диэлектрических микроструктур на основе модифицированных при облучении полимерных пленок
Письма в ЖТФ, 48:6 (2022), 7–10
-
О спектре межслойных шероховатостей в фосфолипидном мультислое
Письма в ЖЭТФ, 114:10 (2021), 674–679
-
Скошенное магнитное межслойное упорядочение в [Fe(3.0 нм)/Cr(1.2 нм)]$_{10}$ структуре, выявленное методом синхротронной мессбауэровской рефлектометрии с поляризационным анализом
Письма в ЖЭТФ, 113:3 (2021), 175–181
-
Необычные X-образные дефекты в монокристалле кремния, возникающие под действием четырехопорного изгиба
Письма в ЖЭТФ, 113:3 (2021), 161–167
-
Анализ результатов томографической реконструкции объектов с сильно поглощающими включениями по проекциям, собранным в полихроматических условиях
ИТиВС, 2020, № 3, 49–61
-
Вклад структурных дефектов в интенсивность квазизапрещенных рентгеновских отражений алмаза: сравнение данных рентгеновской топографии и инфракрасной спектроскопии
Письма в ЖЭТФ, 111:9 (2020), 597–601
-
Латеральные неоднородности сапфировых пластин по данным рентгеновских и зондовых методов
ЖТФ, 90:3 (2020), 419–426
-
Коррекция характеристик кремниевых фотодиодов путем применения ионной имплантации
Физика и техника полупроводников, 54:6 (2020), 557–563
-
Изучение микроструктуры кристаллов Si, подвергнутых облучению быстрыми Н$^{+}$-ионами и термообработке, методами высокоразрешающей трехкристальной рентгеновской дифрактометрии и электронной просвечивающей микроскопии
Физика твердого тела, 61:10 (2019), 1754–1762
-
Об изменении реальной структуры кристаллов кремния, имплантированных ионами водорода, при их отжиге по данным трехкристальной рентгеновской дифрактометрии
Физика твердого тела, 61:8 (2019), 1437–1442
-
Электростатические и структурные эффекты при адсорбции полилизина на поверхности монослоя DMPS
Письма в ЖЭТФ, 109:5 (2019), 340–346
-
Рентгеновская диагностика дефектов микроструктуры кристаллов кремния, облученных ионами водорода
ЖТФ, 89:5 (2019), 731–736
-
Регулярные микроструктуры на основе пленок полиэтилентерефталата
Письма в ЖТФ, 45:5 (2019), 49–51
-
Модельно-независимое исследование поверхности кремнезоля методом рентгеновского рассеяния
Письма в ЖЭТФ, 107:6 (2018), 394–399
-
Шаблонный синтез микроструктур железа на основе трековых мембран
Письма в ЖТФ, 44:14 (2018), 66–72
-
Рентгеновское исследование структуры монослоев фосфолипида на поверхности воды
Письма в ЖЭТФ, 106:8 (2017), 515–520
-
Кинетика формирования фосфолипидного мультислоя на поверхности кремнезоля
Письма в ЖЭТФ, 104:12 (2016), 880–887
-
О формировании макроскопически плоской фосфолипидной мембраны на гидрозольной подложке
Письма в ЖЭТФ, 102:7 (2015), 536–541
-
Структура и свойства “нематически упорядоченных” аэрогелей
Письма в ЖЭТФ, 101:8 (2015), 613–619
-
Особенности диагностики качества вогнутых сферических поверхностей скользящим рентгеновским пучком
ЖТФ, 84:1 (2014), 145–149
-
Вычислительно эффективный вариант алгебраического метода компьютерной томографии
Автомат. и телемех., 2013, № 10, 86–97
-
Рентгеновское томографическое изображение депозита на
сферической поверхности
Письма в ЖЭТФ, 94:9 (2011), 738–741
-
Конденсация наночастиц кремнезема на фосфолипидной мембране
Письма в ЖЭТФ, 94:7 (2011), 625–628
-
Двумерное увеличение изображения в рентгеновском микроскопе асимметричного отражения
Письма в ЖЭТФ, 85:1 (2007), 106–108
-
Рентгеновская микроскопия с использованием асимметричного отражения от монокристалла
Письма в ЖЭТФ, 73:4 (2001), 205–209
-
Об опpеделении шеpоховатостей вогнутых лазеpных зеpкал
Квантовая электроника, 24:9 (1997), 845–850
-
Зеркальный рентгеновский микроскоп для исследования объектов, освещаемых излучением лазерной плазмы
Квантовая электроника, 22:9 (1995), 951–954
© , 2026