|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru
-
Сверхбыстрая кинетика люминесценции и эффекты локализации неравновесных носителей в вырожденных слоях $n$-InGa
Письма в ЖЭТФ, 121:8 (2025), 688–695
-
Фотоиндуцированная перенормировка запрещенной зоны в вырожденных узкозонных эпитаксиальных пленках $n$-InGaN
Физика и техника полупроводников, 59:9 (2025), 563–570
-
Формирование планарных структур с InGaN-слоями для источников света красного диапазона длин волн
Физика и техника полупроводников, 59:7 (2025), 406–413
-
Резонансная оже-рекомбинация в квантовых ямах HgTe/CdHgTe для лазеров среднего инфракрасного диапазона
Письма в ЖТФ, 51:16 (2025), 35–38
-
Влияние отношения потоков III и V групп на структурные, излучательные свойства и стимулированное излучение планарных структур с InGaN-слоями в ИК диапазоне
Физика и техника полупроводников, 58:4 (2024), 220–225
-
Особенности формирования объемных слоев In$_x$Ga$_{1-x}$N в зоне несмешиваемости твердых растворов ($x\sim$ 0.6) методом молекулярно-пучковой эпитаксии с плазменной активацией азота
Физика и техника полупроводников, 57:6 (2023), 444–450
-
Фотолюминесценция растянутых Ge микромостиков при различных температурах: эксперимент и моделирование
Физика и техника полупроводников, 56:10 (2022), 954–960
-
Формирование методом молекулярно-пучковой эпитаксии с плазменной активацией азота гетероструктур с множественными квантовыми ямами InN/InGaN на сапфире
Физика и техника полупроводников, 56:9 (2022), 848–854
-
Формирование слоев InGaN средних составов методом МПЭ ПА для лазерных источников красного и ИК диапазона
Физика и техника полупроводников, 56:7 (2022), 700–704
-
Особенности структурных и оптических свойств InGaN-слоев, полученных методом МПЭ ПА с импульсной подачей потоков металлов
Физика и техника полупроводников, 55:9 (2021), 766–772
-
Исследование стимулированного излучения в гетероструктурах с квантовыми ямами HgTe/CdHgTe в окне прозрачности атмосферы 3–5 мкм
Физика и техника полупроводников, 54:10 (2020), 1163–1168
-
Исследование микроволнового поглощения в полупроводниках для устройств умножения частоты и управления выводом излучения непрерывных и импульсных гиротронов
Физика и техника полупроводников, 54:9 (2020), 878–883
-
Стимулированное излучение на длине волны $2.86$ мкм из метаморфных In(Sb,As)/In(Ga,Al)As/GaAs квантовых ям в условиях оптической накачки
Письма в ЖЭТФ, 110:5 (2019), 297–302
-
Субмонослойные квантовые точки InGaAs/GaAs, выращенные методом МОС-гидридной эпитаксии
Физика и техника полупроводников, 53:8 (2019), 1159–1163
-
Применение компенсирующих слоев GaAsP для роста лазерных гетероструктур с квантовыми ямами InGaAs/GaAs, излучающих на длинах волн больше 1100 нм, на искусственных подложках Ge/Si
Физика и техника полупроводников, 52:12 (2018), 1443–1446
-
Стимулированное излучение в диапазоне 1.3–1.5 мкм из квантовых ям AlGaInAs в гибридных светоизлучающих структурах A$^{\mathrm{III}}$B$^{\mathrm{V}}$ на кремниевых подложках
Физика и техника полупроводников, 52:11 (2018), 1384–1389
-
Формирование и исследование локально-растянутых Ge-микроструктур для кремниевой фотоники
Физика и техника полупроводников, 52:11 (2018), 1331–1336
-
Optical properties of GaN nanowires grown by MBE on SiC/Si(111) hybrid substrate
Физика и техника полупроводников, 52:5 (2018), 509
-
Стимулированное излучение на длине волны 1.3 $\mu$m в метаморфной структуре InGaAs/InGaAsP с квантовыми ямами, выращенной на подложке Ge/Si (001)
Письма в ЖТФ, 44:16 (2018), 67–74
-
Особенности выращивания лазерных структур InGaAs/ GaAs/AlGaAs методом МОС-гидридной эпитаксии на подложках Ge/Si
Физика и техника полупроводников, 51:11 (2017), 1579–1582
-
Технология изготовления лазерных диодов из структур GaAs/InGaAs/AlGaAs, выращенных на Ge/Si подложке
Физика и техника полупроводников, 51:11 (2017), 1530–1533
-
Длинноволновое стимулированное излучение и времена жизни носителей в волноводных структурах с квантовыми ямами на основе HgCdTe
Физика и техника полупроводников, 50:12 (2016), 1679–1684
-
Стимулированное излучение из объемного метаморфного слоя GaAsSb на GaAs-подложке
Физика и техника полупроводников, 50:5 (2016), 596–599
-
Применение техники годографа к диагностике диодных структур
Физика и техника полупроводников, 49:11 (2015), 1492–1496
-
Влияние прямого захвата дырок с испусканием оптических фононов на релаксацию примесной фотопроводимости в $p$-Si:B
Физика и техника полупроводников, 49:2 (2015), 192–195
-
Наблюдение прямозонной электролюминесценции из GaAs-структуры с квантовыми ямами Ge
Физика и техника полупроводников, 49:2 (2015), 175–178
-
Волноводный эффект квантовых ям InGaAs в структуре GaAs на подложке Si с буферным слоем Ge
Письма в ЖТФ, 41:13 (2015), 72–78
-
Сечение поглощения для перехода
$^4I_{15/2}\to^4I_{13/2}$ ионов
Er$^{3+}$ в эпитаксиальных слоях Si:Er:O/SOI
Письма в ЖЭТФ, 100:12 (2014), 913–918
-
Стимулированное излучение из InGaAs/GaAs/AlGaAs гетероструктуры,
выращенной на Si подложке
Письма в ЖЭТФ, 100:12 (2014), 900–903
-
Особенности безызлучательной релаксации ионов Er$^{3+}$ в кремниевых эпитаксиальных структурах
Физика и техника полупроводников, 48:12 (2014), 1626–1631
-
Особенности примесной фотопроводимости в эпитаксиальных диодах Si : Er/Si
Физика и техника полупроводников, 47:11 (2013), 1513–1516
-
Волноводный эффект квантовых ям GaAsSb в лазерной структуре на основе GaAs
Физика и техника полупроводников, 47:11 (2013), 1486–1488
-
Кинетика релаксации примесной фотопроводимости в $p$-Si : B с различным уровнем легирования и степенью компенсации в сильных электрических полях
Физика и техника полупроводников, 47:11 (2013), 1472–1475
-
Структурные и оптические свойства гетероструктур на основе GaAs с квантовыми ямами Ge и Ge/InGaAs
Физика и техника полупроводников, 47:5 (2013), 621–625
-
Волноводный эффект квантовых ям в полупроводниковых лазерах
Квантовая электроника, 43:5 (2013), 401–406
-
Влияние толщины кремниевого разделительного слоя на электролюминесценцию многослойных структур с самоформирующимися островками Ge(Si)/Si(001)
Физика и техника полупроводников, 46:11 (2012), 1448–1452
-
Особенности релаксации примесной фотопроводимости в кремнии, легированном бором
Физика и техника полупроводников, 46:11 (2012), 1414–1418
-
Сравнительный анализ радиационного воздействия на электролюминесценцию кремния и SiGe/Si(001)-гетероструктур с самоформирующимися наноостровками
Физика и техника полупроводников, 45:2 (2011), 230–234
-
Зависимость концентрации ионизованных доноров от температуры эпитаксии для слоев Si : Er/Si, выращенных методом сублимационной молекулярно-лучевой эпитаксии
Физика и техника полупроводников, 45:1 (2011), 132–135
-
Электролюминесценция на длине волны 1.5 мкм в диодных структурах Si : Er/Si, легированных акцепторами Al, Ga, B
Физика и техника полупроводников, 44:12 (2010), 1645–1648
-
Электрические и люминесцентные свойства кремниевых диодных светоизлучающих структур $p^+/n^+/n$-Si:Er туннельно-пролетного типа
Физика и техника полупроводников, 44:11 (2010), 1533–1538
-
Перестраиваемый источник терагерцового излучения на основе генерации разностной частоты в кристалле GaP
Письма в ЖЭТФ, 88:12 (2008), 905–907
© , 2026