|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru
-
Many-particle interaction in tunneling spectroscopy of Ge
adatoms on Ge(111) surface
Письма в ЖЭТФ, 100:12 (2014), 919–922
-
Ab initio study of surface electronic structure of phosphorus
donor imputiry on Ge(111)-(2$\times$1) surface
Письма в ЖЭТФ, 97:7 (2013), 458–464
-
Ab initio electronic structure of Ge(111)-(2$\times$1) surface in the presence of surface vacancy.
Apllication to STM data analysis
Письма в ЖЭТФ, 96:1 (2012), 33–36
-
STM/STS study of C$_{60}$F$_{36}$ molecules adsorption on
$7\times 7$–Si(111) surface
Письма в ЖЭТФ, 95:12 (2012), 748–750
-
Metallic glass electronic structure peculiarities revealed by UHV STM/STS
Письма в ЖЭТФ, 94:1 (2011), 58–62
-
Electronic structure of Ge(111)-(2$\times$1) surface in the presence of
doping atoms. Ab initio analysis of STM data
Письма в ЖЭТФ, 93:9 (2011), 579–583
-
Формирование пространственных спиралевидных световых структур полимерным наноцилиндром
Письма в ЖЭТФ, 88:9 (2008), 654–658
-
Bias voltage dependent shift of the atomic-scale structure of the Ge(111)-(2$\times$1) reconstructed surface measured by low temperature scanning tunneling microscopy
Письма в ЖЭТФ, 85:6 (2007), 334–339
-
The influence of different impurity atoms on $1/f^\alpha$ tunneling current noise characteristics on InAs(110) surface
Письма в ЖЭТФ, 85:1 (2007), 46–51
-
Ag-induced atomic structures on the Si(110) surface
Письма в ЖЭТФ, 84:6 (2006), 381–384
-
Identifying the electronic properties of the Ge(111)-(2$\times$1) surface by low temperature scanning tunneling microscopy
Письма в ЖЭТФ, 82:5 (2005), 312–316
-
Many particle interaction in tunneling spectroscopy of impurity states on the InAs(110) surface
Письма в ЖЭТФ, 77:4 (2003), 202–207
-
Coulomb singularity effects in tunnelling spectroscopy of individual impurities
Письма в ЖЭТФ, 76:5 (2002), 345–348
-
Туннельная спектроскопия локализованных состояний единичных примесных атомов на поверхности полупроводников
УФН, 170:5 (2000), 575–578
-
Влияние локализованных состояний и межчастичных взаимодействий на диагностику наноструктур методами СТМ/СТС и АСM
УФН, 165:2 (1995), 236–238
-
Влияние локального трения на АСМ-изображение структуры поверхности
Письма в ЖТФ, 17:10 (1991), 24–28
-
Сканирующая туннельная микроскопия в воздушной среде
Докл. АН СССР, 297:6 (1987), 1351–1354
-
Экранирование экситонов в полупроводнике GaSe
Физика твердого тела, 28:4 (1986), 1035–1042
© , 2026