|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru
-
Широкополосное антиотражающее композитное покрытие: влияние импульсной лазерной обработки на оптические свойства
Оптика и спектроскопия, 132:6 (2024), 668–674
-
Слои кремния, гиперпересыщенные теллуром, для фотодиодов видимого и инфракрасного диапазонов
ЖТФ, 91:12 (2021), 2026–2037
-
Влияние методов формирования полимерных композитных материалов с углеродными нанотрубками на механизмы электропроводности
ЖТФ, 91:3 (2021), 475–483
-
Резистивное переключение в структурах ITO/SiN$_{x}$/Si
ЖТФ, 91:1 (2021), 139–144
-
Влияние режимов импульсного лазерного отжига на оптические свойства кремния, гипердопированного селеном
Оптика и спектроскопия, 129:8 (2021), 1037–1047
-
Наносекундное воздействие интенсивного лазерного излучения на тонкие плёнки TiAlN
Оптика и спектроскопия, 128:1 (2020), 144–150
-
Люминесценция пленок нитрида кремния, имплантированных азотом
Вестник Евразийского национального университета имени Л.Н. Гумилева. Серия Физика. Астрономия, 122:1 (2018), 68–73
-
Нано- и микроструктурирование твёрдых тел быстрыми тяжёлыми ионами
УФН, 187:5 (2017), 465–504
-
Влияние облучения ионами гелия на структуру, фазовую стабильность и микротвердость наноструктурированных покрытий TiN, TiAlN, TiAlYN
ЖТФ, 86:5 (2016), 57–63
-
Радиационная стойкость высокоэнтропийных наноструктурированных покрытий (Ti, Hf, Zr, V, Nb)N
ЖТФ, 85:10 (2015), 105–110
-
Влияние режимов термообработки на структуру и оптические свойства кристаллического кремния с нанокристаллами GaSb, сформированными высокодозной ионной имплантацией
ЖТФ, 85:9 (2015), 91–96
-
Процессы формирования нанокластеров InAs в кремнии методом высокодозной ионной имплантации: результаты эксперимента и моделирования
ЖТФ, 85:9 (2015), 77–85
-
Спектрометрия ионного рассеяния и комбинационное рассеяние света в монокристаллах GaS, подвергнутых облучению водородом с энергией 140 кэВ
Физика и техника полупроводников, 49:5 (2015), 599–602
-
Исследование влияния параметров осаждения на структуру и физико-химические свойства защитных покрытий из Al$_2$O$_3$
ЖТФ, 83:11 (2013), 142–145
-
Адгезионная прочность и сверхтвердость, фазовый и элементный состав наноструктурных покрытий, сформированных на основе Ti–Hf–Si–N
Физика твердого тела, 54:9 (2012), 1764–1771
-
Влияние массопереноса и сегрегации на формирование сверхтвердых наноструктурных покрытий Ti–Hf–N(Fe)
Письма в ЖТФ, 38:13 (2012), 57–64
-
Ослабление электромагнитного излучения СВЧ-диапазона бумагой из углеродных нанотрубок
ЖТФ, 81:11 (2011), 140–145
-
Микро- и нанокомпозитные защитные покрытия на основе Ti–Al–N/Ni–Cr–B–Si–Fe, их структура и свойства
ЖТФ, 81:7 (2011), 124–131
-
Стехиометрия, фазовый состав и свойства сверхтвердых наноструктурных пленок Ti–Hf–Si–N, полученные с помощью вакуумно-дугового источника в высокочастотном разряде
Письма в ЖТФ, 37:13 (2011), 90–97
-
Дефектообразование и трекообразование в твердых телах при облучении ионами сверхвысоких энергий
УФН, 173:12 (2003), 1287–1318
-
Дефектно-примесная инженерия в имплантированном кремнии
УФН, 173:8 (2003), 813–846
-
Моделирование диффузии примесей при термическом отжиге системы поликремний-кремний
Матем. моделирование, 9:5 (1997), 68–76
-
Излучательные потери в тонкопленочных гамма-волноводах
ЖТФ, 62:8 (1992), 110–116
-
О механизме ионно-индуцированной кристаллизации в кремнии
Физика и техника полупроводников, 26:10 (1992), 1841–1844
-
Исследование пропускания многослойных тонкопленочных рентгеноводов
Письма в ЖТФ, 17:13 (1991), 82–86
-
Гамма-волновод
Письма в ЖТФ, 17:6 (1991), 45–49
-
Флуктуации зарядового
состояния ионов: возможная причина
увеличения
дисперсии пробегов при высокоэнергетичной ионной имплантации
Письма в ЖТФ, 17:5 (1991), 69–72
-
Модель каналирования ионов бора
при высокоэнергетичном ионном
легировании кристаллов кремния
Письма в ЖТФ, 16:23 (1990), 4–8
-
Использование многослойных структур в качестве мишеней для генерации
коллимированного пучка рентгеновских квантов
Письма в ЖТФ, 16:15 (1990), 43–47
-
О возможности построения источника рентгеновского излучения на основе
эффекта полного внешнего отражения
Письма в ЖТФ, 16:1 (1990), 57–61
-
Формирование скрытого слоя $\beta$-Si$_{3}$N$_{4}$
при высокоинтенсивном ионном облучении (ВИО) кремния
ЖТФ, 59:1 (1989), 200–202
-
Высокоэнергетичная ионная имплантация
ЖТФ, 58:3 (1988), 559–566
-
Образование двойников и гексагональной модификации в кремнии при
облучении интенсивными пучками ионов Аr$^{+}$
ЖТФ, 58:3 (1988), 548–551
-
К вопросу об излучении при каналировании электронов с энергией 16.9, 30.5, 54.5 МэВ в алмазе
ЖТФ, 58:1 (1988), 195–197
-
Экспериментальное исследование спектров рентгеновского излучения при каналировании быстрых электронов в кремнии
Докл. АН СССР, 294:2 (1987), 339–342
-
Фазовые превращения в слоях ниобия при имплантации ионов азота и сверхпроводящие свойства системы Nb$-$N
Физика твердого тела, 29:6 (1987), 1660–1664
-
Остаточные дефекты в кремнии при имплантации ионов As$^{+}$
в самоотжиговом режиме
Физика и техника полупроводников, 21:10 (1987), 1863–1867
-
Исследование образования монокристаллических слоев $\beta$-SiC на Si
методом высокоинтенсивного ионного легирования (ВИЛ)
Физика и техника полупроводников, 21:5 (1987), 920–922
-
Прожекторный эффект в излучении Кумахова
Докл. АН СССР, 289:3 (1986), 603–605
-
Определение оптимального режима разработки неоднородного по толщине участка нефтяного
месторождения
Исслед. по подземн. гидромех., 8 (1986), 84–91
-
Отжиг дефектов и электрическая активация примеси в процессе
высокоинтенсивного ионного легирования кремния
Физика и техника полупроводников, 20:9 (1986), 1726–1728
-
Синтез монокристаллического карбида кремния с помощью одношаговой
техники высокоинтенсивного ионного легирования
Физика и техника полупроводников, 20:1 (1986), 149–152
-
« Прожекторный» эффект в излучении Кумахова
ЖТФ, 55:11 (1985), 2230–2232
-
Уширение линий спонтанного излучения при плосткостном каналировании
электронов
ЖТФ, 55:11 (1985), 2184–2190
-
Кристаллизация и эффект отжига макродефектов в процессе высокоинтенсивной ионной имплантации полупроводниковых кристаллов
Письма в ЖТФ, 11:18 (1985), 1110–1113
-
Возможность флуктуационного образования аморфной фазы в процессе
ионного легирования металлов
ЖТФ, 54:9 (1984), 1836–1837
-
Сечения ионизации внутренних электронов в модели релятивистских
бинарных столкновений
ЖТФ, 54:8 (1984), 1465–1471
-
Аномалия в температурной зависимости излучения Кумахова при аксиальном каналировании электронов
Докл. АН СССР, 272:2 (1983), 346–349
-
О методе определения электронных плотностей в кристаллах по выходу $\delta$-электронов
Докл. АН СССР, 263:5 (1982), 1123–1125
© , 2026