|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru
-
Латеральные неоднородности сапфировых пластин по данным рентгеновских и зондовых методов
ЖТФ, 90:3 (2020), 419–426
-
Коррекция характеристик кремниевых фотодиодов путем применения ионной имплантации
Физика и техника полупроводников, 54:6 (2020), 557–563
-
Изучение микроструктуры кристаллов Si, подвергнутых облучению быстрыми Н$^{+}$-ионами и термообработке, методами высокоразрешающей трехкристальной рентгеновской дифрактометрии и электронной просвечивающей микроскопии
Физика твердого тела, 61:10 (2019), 1754–1762
-
Об изменении реальной структуры кристаллов кремния, имплантированных ионами водорода, при их отжиге по данным трехкристальной рентгеновской дифрактометрии
Физика твердого тела, 61:8 (2019), 1437–1442
-
Рентгеновская диагностика дефектов микроструктуры кристаллов кремния, облученных ионами водорода
ЖТФ, 89:5 (2019), 731–736
-
Рентгенодифракционное исследование внутренних напряжений в кристаллах кварца методом наклона
Физика твердого тела, 33:6 (1991), 1740–1748
-
Рентгенотопографическая визуализация полей упругих напряжений, создаваемых ультразвуком в кристаллах
Физика твердого тела, 32:4 (1990), 1224–1226
-
Восстановление фазы рентгеновской волны, дифрагированной на слоистой монокристаллической структуре
Докл. АН СССР, 309:1 (1989), 105–109
-
Определение пластической деформации в гетероструктурах по данным рентгеновской дифрактометрии
Физика твердого тела, 31:9 (1989), 76–80
-
Рентгенодифрактометрическое исследование нарушенных приповерхностных слоев Si(111) и In$_{0.5}$Ga$_{0.5}$P/GaAs(111) на основе модели постоянного градиента деформации
Физика твердого тела, 31:4 (1989), 74–81
-
Определение несоответствия и напряжений в многослойных гетероструктурах
типа $\mathrm{A}^\mathrm{III}\mathrm{B}^\mathrm{V}$
Докл. АН СССР, 292:2 (1987), 354–356
-
Новый тип интерференционных полос на брэгговских секционных топограммах
Физика твердого тела, 29:5 (1987), 1608–1611
-
Экспериментальное исследование и ЭВМ моделирование высокотемпературных изображений дислокаций на рентгеновских секционных топограммах в Si
Физика твердого тела, 29:5 (1987), 1392–1398
-
Экспериментальное и теоретическое исследование брэгговского отражения рентгеновских лучей от упругоизогнутрых кристаллов кремния
Физика твердого тела, 28:10 (1986), 2935–2940
-
Исследование совершенства структуры кристаллов с однородно распределенными дефектами
Физика твердого тела, 27:6 (1985), 1911–1912
-
Решение уравнения Шредингера–Бете для многоволновой дифракции быстрых электронов в идеальных кристаллах
Докл. АН СССР, 275:4 (1984), 865–869
-
Исследование упругонапряженного состояния монокристаллических пластин по данным рентгеновской дифракции методом наклона
Физика твердого тела, 26:7 (1984), 2019–2024
-
Брэгговская дифракция рентгеновских лучей на кристалле с переходным слоем
Физика твердого тела, 26:5 (1984), 1319–1325
-
Малоугловое рассеяние при отражении рентгеновских лучей от поверхности твердого тела
Физика твердого тела, 25:4 (1983), 1211–1214
-
Исследование решений одномерного уравнения Шредингера с потенциалом типа Харди. Формализм $S$-матрицы
ТМФ, 38:3 (1979), 380–387
-
Решение проблемы расчета рентгеновских проекционных топограмм
Докл. АН СССР, 240:4 (1978), 836–838
-
Точное решение задачи динамической брэгговской дифракции рентгеновских лучей в упругоизогнутом толстом кристалле
Докл. АН СССР, 238:1 (1978), 81–84
-
Динамическая дифракционная фокусировка рентгеновских лучей упруго изогнутым кристаллом
Докл. АН СССР, 228:5 (1976), 1087–1090
-
Дифракция рентгеновских лучей на изогнутом кристалле
Докл. АН СССР, 222:3 (1975), 599–602
-
Проблема изображения в рентгеновской оптике
УФН, 107:2 (1972), 229–265
-
Рентгеновская оптика
УФН, 104:2 (1971), 331–332
© , 2026