|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru
-
Буферные структуры GaAs/Si, полученные методом газофазной эпитаксии из металлоорганических соединений
Письма в ЖТФ, 52:7 (2026), 48–52
-
Быстродействующие токовые ключи на основе AlGaAs/GaAs-гетероструктур тиристоров с толстой $p$-базой (8 мкм)
Физика и техника полупроводников, 59:10 (2025), 629–634
-
Импульсный фотоактивируемый ключ на основе полупроводникового лазера и высоковольтного фотодиода AlGaAs/GaAs
Физика и техника полупроводников, 58:12 (2024), 703–708
-
Температурная зависимость пороговой плотности тока в полупроводниковых лазерах ($\lambda$ = 1050–1070 нм)
Физика и техника полупроводников, 46:9 (2012), 1234–1238
-
Температурная делокализация носителей заряда в полупроводниковых лазерах ($\lambda$ = 1010–1070 нм)
Физика и техника полупроводников, 46:9 (2012), 1230–1233
-
Лазеры с сильнонапряженной квантовой ямой GaInAs с компенсирующими слоями GaAsP, излучающие на длине волны 1220 нм, выращенные методом МОС-гидридной эпитаксии на подложке GaAs
Физика и техника полупроводников, 45:10 (2011), 1417–1421
-
Лазеры с сильно напряженной квантовой ямой GaInAs с компенсирующими слоями GaAsP, излучающие на длине волны 1190 нм, выращенные методом МОС-гидридной эпитаксии на подложке GaAs
Физика и техника полупроводников, 45:9 (2011), 1274–1278
-
InGaAs/GaAs/AlGaAs-лазеры, излучающие на длине волны 1190 нм, выращенные методом МОС-гидридной эпитаксии на подложке GaAs
Физика и техника полупроводников, 44:12 (2010), 1640–1644
-
Влияние толщины активной области на характеристики полупроводниковых лазеров на основе асимметричных гетероструктур AlGaAs/GaAs/InGaAs с расширенным волноводом
Физика и техника полупроводников, 44:2 (2010), 246–250
© , 2026