Jedrzejewski J

Публикации в базе данных Math-Net.Ru

1. Зарядовая спектроскопия слоев SiO$_2$ с нанокристаллами кремния, модифицированных ионами высоких энергий
   
   Физика и техника полупроводников, 45:5 (2011),  591–595
2. Исследование границы раздела слой–подложка в структурах Si–SiO$_2$–$p$-Si с кремниевыми квантовыми точками методом температурных зависимостей фотоэдс
   
   Физика и техника полупроводников, 44:9 (2010),  1224–1228
3. Рентгеновская и инфракрасная спектроскопия слоев, полученных совместным распылением разнесенных в пространстве источников SiO$_2$ и Si
   
   Физика и техника полупроводников, 44:4 (2010),  550–555
4. Упорядоченные массивы нанокристаллов кремния в SiO$_2$: структурные, оптические, электронные свойства
   
   Физика и техника полупроводников, 44:4 (2010),  501–506