Соколов Андрей Арианович

Публикации в базе данных Math-Net.Ru

1. Электрофизические свойства многослойной структуры SiC–Si
   
   Физика и техника полупроводников, 48:6 (2014),  814–817
2. Изучение влияния пористой подложки SiO$_2$ на свойства пленок Al$_2$O$_3$ с помощью рентгеновской рефлектометрии
   
   Письма в ЖТФ, 38:12 (2012),  24–29
3. Рентгеноспектроскопическое исследование тонких пленок HfO$_2$, синтезированных на Si (100) методами ALD и MOCVD
   
   ЖТФ, 80:7 (2010),  131–136
4. Исследование стабильности структуры пористого кремния, полученного травлением Si(100) в водном растворе фторида аммония, спектроскопическими методами
   
   Письма в ЖТФ, 36:3 (2010),  53–59