Рогило Дмитрий Игоревич

Публикации в базе данных Math-Net.Ru

1. Контроль формирования слоев графена на подложках 6H-SiC(0001) методом in situ дифракции быстрых электронов на отражение
   
   Физика и техника полупроводников, 59:2 (2025),  102–108
2. Взаимодействие атомов In с поверхностью Bi$_2$Se$_3$(0001) в процессе низкотемпературной адсорбции
   
   Физика и техника полупроводников, 58:11 (2024),  606–611
3. Фазовый переход $\beta\Longleftrightarrow\beta'$ с температурным гистерезисом в пленках In$_2$Se$_3$
   
   Физика и техника полупроводников, 58:7 (2024),  370–375