Тихонравов Александр Владимирович

Публикации в базе данных Math-Net.Ru

1. Выбор алгоритма широкополосного контроля процесса напыления оптических покрытий с учетом эффекта самокомпенсации ошибок
   
   Ж. вычисл. матем. и матем. физ., 65:4 (2025),  515–527
2. Обратная задача Штурма–Лиувилля и ее приложения к обратным задачам оптики слоистых покрытий
   
   Выч. мет. программирование, 25:спецвыпуск (2024),  1–10
3. Алгоритм контроля процесса напыления оптических покрытий на основе выборочных данных широкополосных измерений
   
   Сиб. журн. индустр. матем., 26:3 (2023),  169–178
4. Оптимизация параметров многослойных дифракционных решеток с использованием игольчатых вариаций
   
   Известия высших учебных заведений. Поволжский регион. Физико-математические науки, 2022, № 4,  56–68
5. Сравнительный анализ свойств алгоритмов решения обратных задач, связанных с монохроматическим контролем процессов напыления оптических покрытий
   
   Ж. вычисл. матем. и матем. физ., 61:9 (2021),  1528–1535
6. Повышение точности контроля напыления оптических покрытий за счёт использования нелокального алгоритма анализа данных
   
   Сиб. журн. индустр. матем., 23:2 (2020),  93–105
7. Устойчивый метод оптического контроля процесса напыления многослойных оптических покрытий
   
   Ж. вычисл. матем. и матем. физ., 60:12 (2020),  2122–2130
8. Вычислительные подходы к исследованию эффекта самокомпенсации ошибок при напылении многослойных оптических покрытий
   
   Ж. вычисл. матем. и матем. физ., 60:6 (2020),  1045–1052
9. Нелокальный алгоритм анализа данных монохроматического контроля процесса напыления многослойных покрытий
   
   Выч. мет. программирование, 20:4 (2019),  471–480
10. Сравнение алгоритмов решения задачи определения толщин слоев оптических покрытий в режиме “on-line”
    
    Ж. вычисл. матем. и матем. физ., 59:3 (2019),  494–504
11. Regularizing algorithms for the determination of thickness of deposited layers in optical coating production
    
    Eurasian Journal of Mathematical and Computer Applications, 6:4 (2018),  38–47
12. Корреляция ошибок при напылении оптических покрытий с широкополосным оптическим контролем
    
    Выч. мет. программирование, 19:4 (2018),  439–448
13. Влияние наночастиц на структуру напыляемой тонкой пленки: результаты атомистического моделирования
    
    Выч. мет. программирование, 19:2 (2018),  173–177
14. Статистика кольцевых структур в неупорядоченных веществах: параллельный алгоритм для кластеров из сотен тысяч атомов
    
    Выч. мет. программирование, 18:4 (2017),  447–454
15. Расчет механических потерь в стеклообразном диоксиде кремния по результатам атомистического моделирования
    
    Выч. мет. программирование, 18:4 (2017),  381–386
16. Алгоритмы решения обратных задач оптики слоистых сред на основе сравнения экстремумов спектральных характеристик
    
    Ж. вычисл. матем. и матем. физ., 57:5 (2017),  867–875
17. Расчет поверхностной шероховатости атомистических кластеров тонких пленок с характерным размером десятки нанометров
    
    Выч. мет. программирование, 17:4 (2016),  455–459
18. Алгоритм суперкомпьютерного моделирования напыления оптических нанопокрытий
    
    Выч. мет. программирование, 14:3 (2013),  323–327
19. Суперкомпьютерное моделирование современных процессов напыления оптических нанопокрытий
    
    Выч. мет. программирование, 13:4 (2012),  491–496
20. Низкочастотная аппроксимация и выбор оптимальных параметров упругости для двухслойных структур защиты от взрыва
    
    Выч. мет. программирование, 7:1 (2006),  23–35
21. Стабилизация вычислительных алгоритмов определения свойств тонкопленочных оптических покрытий
    
    Выч. мет. программирование, 6:1 (2005),  109–117
22. Новые классы единственности решения задачи определения параметров слоистой среды по ее энергетическому коэффициенту отражения
    
    Ж. вычисл. матем. и матем. физ., 36:11 (1996),  162–172
23. Нелокальный метод оптимизации многослойных оптических систем
    
    Матем. моделирование, 7:8 (1995),  105–127
24. Методы оптимизации второго порядка в задачах синтеза многослойных покрытий
    
    Ж. вычисл. матем. и матем. физ., 33:10 (1993),  1518–1535
25. О единственности определения параметров слоистой среды по энергетическому коэффициенту отражения
    
    Ж. вычисл. матем. и матем. физ., 33:3 (1993),  428–438
26. Рассеяние плоской волны на колончатой структуре тонких пленок
    
    Матем. моделирование, 3:9 (1991),  31–40
27. Об асимптотическом подходе к задаче синтеза полупроводникового прибора
    
    Матем. моделирование, 1:9 (1989),  43–63
28. Математические методы в задачах анализа и синтеза слоистых сред
    
    Матем. моделирование, 1:7 (1989),  13–38
29. Синтез поглощающих слоистых сред
    
    Ж. вычисл. матем. и матем. физ., 28:6 (1988),  887–900
30. Устойчивый метод решения задач синтеза слоистых сред
    
    Докл. АН СССР, 283:3 (1985),  582–585
31. О задачах оптимального управления, связанных с синтезом слоистых сред
    
    Дифференц. уравнения, 21:9 (1985),  1516–1523
32. Синтез слоистых сред с заданными амплитудно-фазовыми свойствами
    
    Ж. вычисл. матем. и матем. физ., 25:11 (1985),  1674–1688
33. Амплитудно-фазовые свойства спектральных коэффициентов слоистых сред
    
    Ж. вычисл. матем. и матем. физ., 25:3 (1985),  442–450
34. Синтез оптических покрытий при наклонном падении света
    
    Ж. вычисл. матем. и матем. физ., 23:4 (1983),  929–935
35. О принципиально достижимой точности решения задач синтеза
    
    Ж. вычисл. матем. и матем. физ., 22:6 (1982),  1421–1433
36. О синтезе многослойных покрытий
    
    Ж. вычисл. матем. и матем. физ., 14:1 (1974),  135–144


37. Алексей Георгиевич Свешников (к шестидесятилетию со дня рождения)
    
    УМН, 40:6(246) (1985),  163–164